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METTLER/XP205梅特勒/電子天平產品特性
閱讀：474 發布時間：2015-4-3
XP205 具體參數：
zui大稱量是 220g
可讀性是 0.01 mg
重復性加加載處是 0.03mg（200g）
線性誤差是 0.1mg
四角誤差是 0.2mg
典型穩定時間是 2.5s
秤盤尺寸是 73*33mm
梅特勒-托利多超越系列XP分析天平快速安全的滿足所有稱量需求，特別適合于例如制藥行業的嚴格法規環境。
XP分析天平具有的網格秤盤（SmartGrid），zui小稱量防風門（MinWeigh Door）和易巧稱量組件（ErgoClips），能顯著縮短穩定時間，實現將樣品方便的直接加入去皮容器，幫助您獲得盡可能低的zui小稱量值。對于昂貴樣品，優化的樣品轉移過程，可降低樣品損失，實現可觀的成本節省。眾多的稱量解決方案，確保符合人體工程學的稱量過程。
全面的質量管理工具（QM），*質量保證的要求。XP分析天平即使在惡劣的實驗室環境下，同樣能提供至高稱量性能。
包括：打印機，傳輸軟件，易巧稱量件，靜電裝置，密度組件，接口選件，zui小稱量防風門等。