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粒度分布調整生產成本
閱讀：1258 發布時間：2020-9-1
大多數的固體都是可以通過工業手段變成粉末狀存在的。把固體變成粉狀可以測量平均密度，振實密度等等。比如金屬粉末測量之后可以控制產品制作時候的使用成本，藥粉可以均勻配比調整好量之后制作藥品。因此平均粒度儀的應用十分廣泛。了解平均粒度，在進一步生產研發上提供了更多的可能性。測試范圍：0.1μm～500μm
光 源：半導體激光器（波長635 nm.功率3mw.使用壽命25000小時以上）
測試方式：濕法測試
樣品濃度：0.5‰～1%（與樣品的比重、顆粒大小、折射率有關）
測試時間：少于1分鐘/次，不含樣品分散時間
掃描速度：2000次/秒
重復性誤差：≦1%
電源：交流220V±10%50Hz或60Hz，功率：80W
微機接口：標準 RS-232串行接口
操作系統：可在Windows所有版本的操作系統下運行