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偏振x射線熒光光譜儀及應用
X射線熒光分析技術是利用初級x射線光子或其他微觀粒子激發待測樣品中的原子，使之產生熒光(次級x射線)而進行物質成分分析和化學形態研究的方法。可廣泛應用于鋼鐵、有色、化工、地質、建材及環境等分面，具有分析速度快、樣品處理簡單、不破壞樣品等特點。
X射線熒光光譜儀大致可以分為兩種——波長色散型X射線熒光光譜儀和能量色散型X射線熒光光譜儀。波長色散型儀器一般由光源（X-射線管）、樣品室、分光晶體和檢測系統等組成，是利用分光晶體將熒光光束色散后，測定各種元素的含量。波長色散型儀器具有優異的性能，應用領域極寬，但儀器結構復雜，價格昂貴。相比較而言，能量色散型儀器結構簡單，省略了晶體的精密遠動裝置，也無需精度調整，價格便宜，但由于分辨率較差，可應用的范圍與波長色散型相比較少。德國斯派克分析儀器公司利用了這兩種儀器的特點，推出了偏振X射線熒光光譜儀正好彌補了兩者的缺陷。
偏振X射線熒光光譜儀，是德國斯派克分析儀器公司推出的全新理念的儀器。該儀器與傳統的光譜儀有著較大的改進，引入了偏振X射線的概念，降低了背景，提高了靈敏度，部分消除了基體效應的影響，對不同的基體可使用同一條工作曲線。使儀器的一些性能可與大型波長色散型X熒光光譜儀相媲美。
偏振X射線熒光光譜儀的突出特點是小機器，大用途，性價比高。偏振X射線熒光光譜儀可以通過二次靶將圓光變為偏振光，大大降低了元素測定時的背景。提高了靈敏度及分辨率。由于偏振X射線本身所具有的偏振性及單色性，因此儀器無需選擇濾光片，避免了煩雜的濾光片的選擇，簡化剖析操作，減少了X光的損失，節儉了剖析時間。安全性符合苛刻的德國標準。可廣泛應用于石油、化工、水泥、陶瓷、有色、玻璃、電子等行業。也可用于環境分析、地質分析等。
元素名稱 | 100秒檢出限 | 30秒檢出限 |
S | 1.4ppm | 0.8ppm |
CI | 1.7ppm | 1.0ppm |
Pb | 1.5ppm | 0.9ppm |
Fe | 2.4ppm | 1.4ppm |
Cu | 2.4ppm | 1.4ppm |
Ni | 1.4ppm | 0.8ppm |
石油行業使用偏振X射線熒光光譜儀的檢測數據