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對應1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試
反復測量精度更高，Z適合生產線
校正維修功能，減低由環境的溫度變化影響
產品簡介
詳細介紹
| C測試儀3506 對應1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試 反復測量精度更高，生產線 校正維修功能，減低由環境的溫度變化影響 測量導線的過長引起的阻抗變化，阻抗補正功能 比測儀的設定值和測定值的同步顯示 2ms的高速測量；1kHz,1MHz 測量 根據BIN的測定區分容量 比測儀和觸發器同步輸出功能 輸入用探頭/測試夾具，實體不附帶。 按照測量目的，不同型號有不同的探頭/測試夾具選件 基本參數 測量參數 C（電容）,D（損耗系數tanδ）, Q （1/tanδ） 測量范圍 C:0.00000pF～15.0000mF D: 0.00001～1.99999 Q:0.0～19999.9 基本確度 （代表值）C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013 ※測定確度= 基本確度× B× C× D× E, B～Eは各系數 測量頻率 3505: 1kHz, 100kHz, 1MHz, 3506: 1kHz, 1MHz 測量信號電平 500mV, 1V rms 輸出電阻 1Ω （在2.2mF以上的測量范圍: 1kHz;在 22nF以上的測量范圍: 100kHzs）, 20Ω 上述測量范圍以外） 顯示 LED（6位顯示,滿量程由點數有效距離來決定） 測量時間 代表值: 2.0 ms （ FAST） ※測量時間根據測量頻率、測量速度的不同而不同 機能 BIN 分選測量功能, 觸發同步測量, 設定測量條件保存功能, 比較器測量功能,平均機能, Low-C抵抗機能, 震動機能,電流檢測功能,輸入電壓檢測機能,EXT I/O輸入/輸出, RS-232C接口, GP-IBイ接口 電源 AC 100/120/220/240V ±10%（可選擇）, 50/60Hz, zui大40VA 體積及重量 260×100×298mm, 4.8kg 附件 電源線×1, 電源備用保險絲×1 |