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該型手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的，*于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
儀器采用了新電子技術進行設計、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數快、精度高、測量范圍寬、穩定性好、結構緊湊、易操作等特點。如有需要可加配測試臺使用。
產品簡介
詳細介紹
手持式四探針測試儀，便攜式四探針測試儀（電阻率：0.01～1999.9Ω.cm，方塊電阻：0.1～19999Ω/□，可擴
貨號：PN000136
產品資料
手持式四探針測試儀，便攜式四探針測試儀（電阻率：0.01～1999.9Ω.cm，方塊電阻：0.1～19999Ω/□，可擴展）
| 該型手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的，于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。 儀器采用了新電子技術進行設計、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數快、精度高、測量范圍寬、穩定性好、結構緊湊、易操作等特點。如有需要可加配測試臺使用。 本儀器適用于半導體材料廠、半導體器件廠、科研單位、高等院校對半導體材料的電阻性能測試。 | ||||||||||||||||||||||||||
| 技 術 指 標 ： | ||||||||||||||||||||||||||
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