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德國EPK（Elektrophysik）公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能；
所有型號均可配所有探頭:
產品簡介
詳細介紹
涂層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100
| 型號 | 1100 | 2100 | 3100 | 4100 |
| MINITEST 存儲的數據量 | ||||
| 應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數) | 1 | 1 | 10 | 99 |
| 每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計，可設寬容度極限值) | - | 1 | 10 | 99 |
| 可用各自的日期和時間標識特性的組數 | - | 1 | 500 | 500 |
| 數據總量 | 1 | 10000 | 10000 | 10000 |
| MINITEST統計計算功能 | ||||
| 讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar | - | √ | √ | √ |
| 讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | - | - | √ | √ |
| 組統計值六種x,s,n,max,min,kvar | - | - | √ | √ |
| 組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | - | - | √ | √ |
| 存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據 | - | - | - | √ |
| 分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值 | - | - | √ | √ |
| 顯示并打印測量值、打印的日期和時間 | - | √ | √ | √ |
| 其他功能 | ||||
| 透過涂層進行校準(CTC) | - | √ | √ | √ |
| 在粗糙表面上作平均零校準 | √ | √ | √ | √ |
| 利用計算機進行基礎校準 | √ | √ | √ | √ |
| 補償一個常數(Offset) | - | - | √ | √ |
| 外設的讀值傳輸存儲功能 | - | √ | √ | √ |
| 保護并鎖定校準設置 | √ | √ | √ | √ |
| 更換電池是存儲數值 | √ | √ | √ | √ |
| 設置極限值 | - | - | √ | √ |
| 公英制轉換 | √ | √ | √ | √ |
| 連續測量模式快速測量，通過模擬柱識別zui大zui小值 | - | - | √ | √ |
| 連續測量模式中測量穩定后顯示讀數 | - | - | √ | √ |
| 浮點和定點方式數據傳送 | √ | √ | √ | √ |
| 組內單值延遲顯示 | - | √ | √ | √ |
| 連續測量模式中顯示zui小值 | √ | √ | √ | √ |
可選探頭參數
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能
| 探頭 | 量程 | 低端 | 誤差 | zui小曲率 | zui小測量 | zui小基 | 探頭尺寸 | |
| 磁 | F05 | 0-500μm | 0.1μm | ±(1%±0.7μm) | 1/5mm | 3mm | 0.2mm | φ15x62mm |
| F1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | |
| F1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x170mm | |
| F3 | 0-3000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | |
| F10 | 0-10mm | 5μm | ±(1%±10μm) | 5/16mm | 20mm | 1mm | φ25x46mm | |
| F20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±10μm) | 10/30mm | 40mm | 2mm | φ40x66mm | |
| F50 | 0-50mm | 10μm | ±(3%±50μm) | 50/200mm | 300mm | 2mm | φ45x70mm | |
| 兩 | FN1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm | φ15x62mm |
| FN1.6P | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 30mm | F0.5mm | φ21x89mm | |
| FN2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm | φ15x62mm | |
| 電 | N02 | 0-200μm | 0.1μm | ±(1%±0.5μm) | 1/10mm | 2mm | 50μm | φ16x70mm |
| N.08Cr | 0-80μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 2.5mm | 2mm | 100μm | φ15x62mm | |
| N1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 2mm | 50μm | φ15x62mm | |
| N1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x170mm | |
| N10 | 0-10mm | 10μm | ±(1%±25μm) | 25/100mm | 50mm | 50μm | φ60x50mm | |
| N20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±50μm) | 25/100mm | 70mm | 50μm | φ65x75mm | |
| N100 | 0-100mm | 100μm | ±(1%±0.3mm) | 100mm/平面 | 200mm | 50μm | φ126x155mm | |
| CN02 | 10-200μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 7mm | 無限制 | φ17x80mm | |
| 注： | F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內測量。 N.08Cr適合銅上鉻，FN2也適合銅上鉻。 CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。 |
探頭圖示
 | FN1.6 0～1600μm,φ5mm 兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
 | FN1.6P 0～1600μm,φ30mm 兩用測頭， 特別適合測粉末狀的覆層厚度 |
 | F05 0～500μm,φ3mm 磁性測頭，適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等 量程低端分辨宰很高(0.1μm) |
 | F1.6 0～1600μm,φ5mm 磁性測頭 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
 | F3 0～3000μm,φ5mm 磁性測頭 可用于較厚的覆層 |
 | F1.6/90 0～1600μm,φ5mm 90度磁性測頭 尤其適合于在管內壁測量 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
 | F10 0～10mm,φ20mm 適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等 |
 | F20 0～20mm,φ40mm 適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等 |
 | F50 0～50mm,φ300mm 適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層 |
 | N02 0～200μm,φ2mm 非磁性測頭，尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
 | N0.8Cr 0～80μm,φ2mm 適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層 |
 | N1.6 0～1600μm,φ2mm 非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
 | N1.6/90 0～1600μm,φ5mm 磁性測頭，適于測量較薄的絕緣覆層 尤其適合在管內壁測量 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
 | N10 0～10mm,φ50mm 非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 |
 | N20 0～20mm,φ70mm 非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 |
 | N100 0～100mm,200mm 非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 |
 | CN02 10～200μm,φ7mm 用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板 |