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定量品質試片
I是帶有人工缺陷的標準磁粉檢測試片。用于：將激磁次數降至Z少，以提高生產效率；
確定磁場方向和相對的磁場強度；
平衡多向磁場。
產品簡介
詳細介紹
I試片
定量品質試片
I是帶有人工缺陷的標準磁粉檢測試片。用于：將激磁次數降至zui少，以提高生產效率；
確定磁場方向和相對的磁場強度；
平衡多向磁場。
不同深度的I試片
用于定量要求更高的作業，缺陷呈三個不同深度的同心圓環。
件號：519632 型號：KSCT-234不同深度的I試片，缺陷深度為試片厚度的20%、30%、40%，試片厚度為0.002英寸
產品關鍵字：KSCT-234不同深度的I試片