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LCR測試儀3535停產(chǎn)通知
LCR測試儀3535及其選件9700-10前置放大單元于2015年3月26日正式停產(chǎn)。
替代產(chǎn)品是阻抗分析儀IM7580（標(biāo)配1m連接線），IM7580-02（標(biāo)配2m連接線）。
替代型號詳細(xì)說明：
阻抗分析儀IM7580介紹：
這次發(fā)售的IM7580zui高可測300MHz的高頻，是能應(yīng)對高頻化發(fā)展的電子元器件的產(chǎn)品。通過IM7580zui快0.5ms（0.0005秒）的高速測量速度，可以快速的檢查大批量的電子元器件，從而大幅提高電子元器件廠家的生產(chǎn)效率。
阻抗分析儀IM7580主要特點：
300MHz世界zui快、通過高速測量和高反復(fù)精度縮短工時、加速生產(chǎn)
測量頻率1MHz~300MHz
測量時間：zui快0.5ms
基本精度±0.72%rdg.
緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小、測試頭僅手掌大小
豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）
使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進(jìn)行測量
阻抗分析儀IM7580技術(shù)參數(shù)：
| 測量模式 | LCR（LCR測量），分析（掃頻測量），連續(xù)測量 |
| 測量參數(shù) | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
| 精度保證范圍 | 100 mΩ~5 kΩ |
| 顯示范圍 | Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99) θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF) D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS) G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %) |
| 基本精度 | Z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41° |
| 測量頻率 | 1 MHz~300 MHz (100 Hz~10 kHz步進(jìn)) |
| 測量信號電平 | 功率 (dbm)模式: -40.0 dbm~ +7.0 dbm 電壓 (V)模式: 4 mV~1001 mVrms 電流 ( I )模式: 0.09 mA~200.2 mArms |
| 輸出阻抗 | 50 Ω (10 MHz時) |
| 顯示 | 彩色TFT8.4英寸、觸屏 |
| 測量時間 | zui快0.5ms（FAST、模擬測量時間、代表值 |
| 功能 | 接觸檢查、比較器、BIN判定（分類功能）、面板讀取·保存、存儲功能、等效電路分析、相關(guān)補償 |
| 接口 | EXT I/O (處理器), USB通訊, U盤, LAN RS-232C (選件), GP-IB (選件) |
| 電源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max |
| 體積和重量 | 主機(jī): 215W × 200H × 268D mm, 6.5 kg 測試頭: 61W × 55H × 24D mm, 175 g |
| 附件 | 電源線 ×1, 測試頭 ×1, 連接線 ×1, 使用說明書 ×1, CD-R (通訊使用說明書) ×1 |
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