13818798630
老化測試
在老化測試過程中，半導體產品的電壓、電流、溫度等多個參數需要同時被監測，GRAPHTEC GL260 A-CN和GL860 A系列數據記錄儀可以提供10個到最高200通道，能夠同時記錄多個參數。無論是靜態電流的監測，還是工作電流的動態變化，GL-IV電流輸入模塊都能精準記錄。
此外，GL260 A-CN和GL860 A系列數據記錄儀標配了約8G閃存，使其能在滿足采樣速度下，能夠支持長時間的數據記錄。通過大容量存儲，測試人員無需頻繁導出數據，確保整個老化周期的連續性。長時間的數據存儲還有效避免了因數據丟失而影響測試結果的風險。
通過GRAPHTEC數據記錄儀，半導體制造商能夠實時跟蹤產品在老化過程中各項性能的變化，如電流波動、溫度升高等，及時發現潛在的質量問題。這為產品的設計改進和質量控制提供了重要的數據支持，確保最終交付的產品符合高標準的質量要求。
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業自行提供，信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業負責，化工儀器網對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示：為規避購買風險，建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。
