采用了四探針雙電測組合(亦稱雙位組合)測量新,將范德堡測量方法推廣應用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，在計算機控制下行兩次電測量，能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響。因而每次測量不知道探針間距、
雙電測四探針測試儀/四探針測試儀/四探針檢測儀/雙電測四探針測定儀/雙電測四探針電阻率測試儀 型號：DP-RTS-9
采用了四探針雙電測組合（亦稱雙位組合）測量新,將范德堡測量方法推廣應用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，在計算機控制下行兩次電測量，能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響。因而每次測量不知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。由于每次測量都是對幾何因素的影響行動態的自動修正，因此顯著降低了幾何因素影響，從而提了測量結果的準確度。所有這些，用目前大量使用的常規四探針測量方法所的儀器是無法實現的。
是個運行在計算機上擁有友好測試界面的用戶程序。測試程序在計算機與RTS-9型四探針測試儀連接的狀態下，通過計算機的并口實現通訊。
測試程序控制四探針測試儀行測量并實時采集兩次組合模式下的測試數據，把采集到的數據在計算機中加以分析，然后把測試數據以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對采集到的數據在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看，還可以把采集到的數據輸出到Excel中，讓用戶對數據行各種數據分析
| 測量范圍 | 電阻率：10-4～105 Ω.cm（可擴展）；
方塊電阻：10-3～106 Ω/□（可擴展）；
電導率：10-5～104 s/cm；
電阻：10-4～105 Ω； |
| 可測晶片厚度 | ≤3mm |
| 可測晶片直徑 | 140mmX150mm（配S-2A型測試臺）；
200mmX200mm（配S-2B型測試臺）；
400mmX500mm（配S-2C型測試臺）； |
| 恒流源 | 電流量程分為1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六檔，各檔電流連續可調 |
| 數字電壓表 | 量程及表示形式：000.00～199.99mV；
分辨力：10μV；
輸入阻抗：>1000MΩ；
度：±0.1% ；
顯示：四位半紅色發光管數字顯示；性、量程自動顯示； |
| 四探針探頭基本標 | 間距：1±0.01mm；
針間緣電阻：≥1000MΩ；
機械游移率：≤0.3%；
探針：碳化鎢或速鋼Ф0.5mm；
探針壓力：5～16 牛頓（總力）； |
| 四探針探頭應用參數 | （見探頭附帶的合格證） |
| 模擬電阻測量相對誤差
（ 按JJG508-87行） | 0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±1字 |
| 整機測量zui大相對誤差 | （用硅標樣片：0.01-180Ω.cm測試）≤±4% |
| 整機測量標準不確定度 | ≤4% |
| 計算機通訊接口 | 并口 |
| 標準使用環境 | 溫度：23±2℃；
相對濕度：≤65%；
無頻干擾；
無強光直射； |
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商品名稱：多用途干膜檢測儀/干膜檢測儀/干膜測試儀
商品型號：DP-PIG
多用途干膜檢測儀/干膜檢測儀/干膜測試儀 型號：DP-PIG
多用途干膜檢測儀/干膜檢測儀/干膜測試儀 說明：
DP-PIG多用途干膜檢測儀（破壞性測厚儀）是根據GB/T13452．2方法4B（ISO．2808-4B法）GB/T9286（ISO．2409）GB/T9275（ISO．2815）標準的。它不僅適用于有機涂料漆膜厚度（亦多層膜總厚度，單層膜厚度及膜層數）、劃格法附著力、巴克霍爾茲壓痕硬度的測定，還可以用來研究針孔、坑洼、裂紋、汽泡、剝落、底材處理的質量及膜層間的其它現象，并可以在不同的底材（鋼、非磁性金屬、塑料、木材等）上測量厚度，范圍從2μm到2000μm。
漆膜多用檢測儀可以在種儀器上成對有機涂料多種性能的試驗及檢測，且試驗方法簡捷、直觀，測量分辯率（±0.001mm），是實驗室和施現場理想的測試儀器。
多用途干膜檢測儀/干膜檢測儀/干膜測試儀 參數：
本儀器集劃格附著力、漆膜厚度和巴克霍爾茲壓痕硬度三項能于體，適用于漆膜附著力、漆膜厚度和巴克霍爾茲壓痕實驗。
破壞法測量多種底材上的涂層厚度，尤其適合塑料和硬質木材上的涂層測厚。
測厚量程0－2000μm，度可達2μm。
1號切刀：厚度范圍 20―2000μm 每格20μm
2號切刀：厚度范圍 10―1000μm 每格10μm
3號切刀：厚度范圍 2―200μm 每格2μm
附著力刀頭可做劃格試驗。
劃格附著力多刃切割刀，間距分別為：1mm、2mm
硬度刀頭可行布氏壓痕硬度試驗。
巴克霍爾茲壓痕刀半徑：R15mm，有效負荷：500±5g
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