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產品簡介
詳細介紹
表面絕緣電阻（SIR）測試系統(tǒng)
表面絕緣電阻（SIR）測試是一種標準的工業(yè)方法。它用來評估在經受腐蝕和與離子污染物相伴產生的一些作用后，板組裝件的潛在問題。這些故障可能由材料交互作用、不充分的過程控制或拙劣的材料性能引起。SIR典型地運用于溫度升高和濕度級。這里的電阻定義為兩個電導體之間的電阻。薄層電阻、體傳導性和電解污染物泄漏都是影響絕緣電阻的因素。
如果您的產品研發(fā)需求包含有表面絕緣電阻測試，Thermotron（熱測公司）的產品測試解決方案小組很樂意為您提供PTS-SIRT-24和PTS-SIRT-256系統(tǒng)，我們的all-in-one解決方案和交鑰匙式SIR測試系統(tǒng)。
設計作為解決方案的*來源，PTS-SIRT系統(tǒng)提供：
1.產品簡（易包）裝－所有設備和服務由Thermotron提供。
2.為您省心－所有元件和已完成的組裝部件都在交付前進行功能測試。
3.可靠性。
這些完善的交鑰匙式系統(tǒng)包括溫度/濕度試驗箱、試驗板夾緊裝置、電源和計算機測試模塊。
TS-SIRT系統(tǒng)使用的高度準確和可靠的設計夠得上256標準試驗線路板的試驗樣本。系統(tǒng)用固態(tài)開關代替簧片繼電器，這樣不僅消除了滲漏，而且也提高了試驗的可靠性。通過超過3％的精確性，他們能夠測量1MO－1億MO的電阻。每個輸入都有自己獨立的試驗線路，允許測試的電壓和測量應用于所有并行的、重要的需減少測試時間的試驗基地。所有的測試程序，通過用戶友好界面提示進行操作。顯示器顯示測試情況、測試評價、偏差、滲入和實時測試間隔。
| 關鍵特征 |
| • 使用微處理器控制，不但提高精確性而且使操作使用更加輕松 • *自動的或手動測試循環(huán)的選擇 • 無交叉通道滲漏 • 快速連接/斷開 • 在非易失性存貯器內可存儲12個不同試驗過程，在操作的緊要關頭可叫回 • 兩個偏差報警經輸入端設置接觸點，可編程序以科學的或小數形式 • 通過/失敗顯示器使操作員可同時瀏覽測試結果 • 試驗箱的環(huán)境條件能通過對計算機的控制報告獲得的測試結果 |
PTS-SIRT符合和超出的要求為：
• ANSI/J-STD 001-006
• IPC-TM 650
• IPC-SM 840
• IPC-S-815 CL III
• MIL-F-14256D
• BELLCORE TR-NWT-000078
• ASTM D-257
• HP EL-EL861-00
它是一個可以處理任何測試圖，包括IPC B24, B25, B36, comb, Y,和圓形圖樣的可編程系統(tǒng)。
| 系統(tǒng)詳述 | |
| 容量： | 8－24 試驗基地 （PTS-SIRT-24）, 25－256 試驗基地 （PTS-SIRT-256） |
| 范圍： | 1 meg ohms－1x1014 meg ohms |
| 精確性： | 3% of reading |
| 測試和 偏差電壓： | ±10V, ±48V, ±100V, ±500V |
| 控制 | Pentium 4 PC, Windows XP, LCD 監(jiān)控器 |
| 計算機 接口： | RS-232. 在每個測試間隔發(fā)送逗點分離ASCII格式數據. |
| 其他： | 包括實時時鐘, 免費軟件更新, 8'配線或套具 |
| 溫度范圍： | -18°C－+110°C （SM-3.5）, -40°C－+130°C （SM-1.0） |
| 濕度范圍： | 20%－98% rh,zui小露點溫度 7°C &zui大干球溫度88°C |
| 降溫速率： | 溫度下降,從+25°C （+77°F）至-20°C （-4°F） 用 22分鐘 SM-1.0） 從+25°C （+77°F）至-10°C （14°F） 用 50分鐘 （SM-3.5） |
| 升溫速率： | 溫度加熱,從+25°C （+77°F）至 +110°C （+230°F） 用 19 分鐘 （SM-1.0） 從 +25°C （+77°F）至+65°C （+150°F） 用 15 分鐘 （SM-3.5） |
| 體積： | SM-1.0: 0.89立方英尺（25 升） SM-3.5: 3.5 立方英尺（99 升） |
| 工作空間尺寸： | SM-1.0: 14"寬 X 8"深 X 14"高 （36寬 X 20深 X 36高 cm） SM-3.5: 17"寬 X 18"深 X 20"高 （43寬 X 46深 X 51高 cm） |
| 電源： | 115 伏 （±5%）, 1 相, 60 赫茲, 16 安培 |
| 濕度水 用法： | 1-2 加侖每小時, 取決于濕度分布. |