當前位置:> 供求商機> HG02-HT-648-變溫霍爾效應儀 霍爾效應測量檢測儀
型號 | 主要技術指標 |
HT-648 | 霍爾效應的測量是開展半導體研究的重要方法。本機利用計算機的數據采集和處理在80K-380K溫度范圍內對霍爾系數和電導率的測量,進行半導體電機制及散射機制的研究,并可確定半導體的一些基本參數,如導電類型、載流子濃度、遷移率、禁帶寬度以及雜質電離能等。 |
北京北信未來電子科技中心
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:王華
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