英國KP開爾文探針掃描（KPFM）主要應用于化學領域、電化學領域和材料領域，開展表面無損分析、樣品表面形貌三維圖繪制、測量導體材料的表面功函數或半導體、絕緣表面的表面勢等。
由于KPFM測量是AFM針尖與樣品之間的接觸電勢差，因此需要首先說明AFM的工作原理。AFM的操作具有三種模式：分別為接觸模式、輕敲模式和非接觸模式。
在接觸模式操作中，AFM的針尖接觸樣品表面，針尖和樣品之間排斥力使與針尖相連的懸臂偏轉，懸臂的偏轉被測量并用作反饋信號。
在其他兩個模式下，懸臂以接近共振的頻率震動，由于針尖與樣品之間的相互作用與它們之間的距離有關，從而導致輕敲模式中的振幅與非接觸模式中的共振頻率發生變化，通過這些變化來得到樣品表面的形貌。
英國KP開爾文探針掃描的特色
1、高分辨率的功函數和表面勢，的穩定性和數據重現性；
2、非零技術：ON信號探測系統在高信號水平下工作，與基于零信號原理的系統相比，不會收到噪聲的影響擁有高靈敏度；
3、高度調節技術：我們的儀器在測量和掃描時可以控制針尖的高度。因為功函數受樣品形貌的影響，針尖與樣品表面距離的調節意味著數據的高重現性且不會漂移；
4、快速響應時間：測量速度在0.1-10秒間，遠快于其他公司產品；
5、功能強的驅動器：選用Voice-coil驅動器，與通常的壓電驅動器相比，VC驅動器頻率要穩定得多、控制的針尖振幅大得多、支持平行多探針操作、支持不同直徑探針操作。
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