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高頻渦流式薄膜測厚儀/膜厚計日本型號：WBLH-200J

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產品簡介

本儀器采用了渦流測厚方法，可損的測量非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上的非導電覆層的厚度（如琺瑯、相交、油漆、塑料等）。

產品介紹

高頻渦流式薄膜測厚儀/膜厚計日本型號：WBLH-200J

貨號：ZH6917

產品簡介
本儀器采用了渦流測厚方法，可損的測量非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上的非導電覆層的厚度（如琺瑯瓶坯垂直度偏差測試儀、相交、油漆、塑料等）。內置打印機，可打印數據，有四個統計功能。
測定方法:高頻渦流式
測定對象:非磁性金屬上緣層
測定范圍:電磁式：0～800um或0～32.0mils
測定精度:<50um±1um >50um±2%
分辨率:<100um 0.1um >100um 1um
界限設定:可設瓶坯垂直度偏差測試儀定上/下限數值
測試單位:公/英制互換
顯示方式:LCD數顯
操作面板:密封防水按鍵
附屬品:鐵基體/鋁基體/校正標準片/電池/皮套/說明書
電源:DV3V 主機5#堿性電池×6個打印機5#堿性電池×4個
體積:80（W）×80（D）×30（H）
重量:1100g