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該儀器適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
性能指標:
波長范圍及峰值波長:
探頭:(光譜響應曲線)
λ:(230~300)nm;λp=254nm
探頭:(光譜響應曲線)
λ:(275~330)nm;λp=297nm
輻照度測量范圍:(0.1~199.9×103)μW/cm2
紫外帶外區(qū)雜光:小于0.05%
準確度:±10%
角度響應特性:二光照度計標準
響應時間:1秒
環(huán)境溫度:(0~40)℃;
環(huán)境濕度:<85%RH
尺 寸:180mm×80mm×36mm;
重 量:0.2kg
電 源:9V積層電池一只