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X-strata 920-X射線熒光鍍層測厚儀
- 發布日期：
- 有效日期：
- 所 在 地：
- 產 地：
- 已獲點擊：
- 2024年12月11日
- 2025年6月11日
- 江蘇蘇州市
- 英國
- 1987次
【產品簡介】
【詳細說明】
X射線熒光鍍層測厚儀/x-ray測厚儀/熒光光譜測厚儀X-strata 920是電子電鍍行業使用zui多的一款X射線無損鍍層測厚儀，適合PCB電子線路板電鍍層小點多點連續測試，電子線路板行業用戶zui多和口碑很好的一款設備。
X射線熒光鍍層測厚儀/x-ray測厚儀/熒光光譜測厚儀X-strata 920特點概述：
1、新型號設計
快速分析（幾秒）1-4層鍍層厚度
多款規格，例如標準樣品臺、加深樣品臺或自動程控樣品臺，滿足所有樣品類型
開槽式樣品艙可檢測大面積樣品，例如印制線路板等
符合ISO3487和ASTM B568檢測方法
2、高性能、高精度、長期穩定性
快速的分析帶來生產成本*化
測定元素厚度
優化的性能可滿足廣泛的元素測量
3、堅固耐用的設計
可靠近生產線或在實驗室操作
生產人員易于使用
4、簡單的校準調試
在沒有標準片時，經驗系數法或基本參數法可以提供簡單可靠的定量結果
方法建立只需幾分鐘
我們提供認證標準片以確保*度（A2LA 和 ISO/IEC17025）
預置了多種校準參數
X射線熒光鍍層測厚儀/x-ray測厚儀/熒光光譜測厚儀X-strata 920預置800多種容易選擇的應用參數/方法
的長期穩定性：
自動熱補償功能測量儀器溫度變化并做修正，
確保穩定的測試結果
例行進行簡單快 速的波譜校 準，可自 動檢查
儀器性能（例如靈敏性）并進行必要的修正
避免不同操作的結果偏差
鐳射聚焦
簡單的“定點-按鍵”操作將樣品聚焦
固定焦距高度： 0.5” (12.7 mm)
可分析不同形狀和尺寸的樣品
多準直器
靈活選擇準直器，優化測試結果
*的靈敏性和分析速度
zui多可配6個準直器，提高應用能力
的系統安全性
為日常操作員設定簡單的、功能受限的用戶界面
管理員可進入系統進行維護
系統使用由操作者登錄
自動鎖定功能防止未*的操作
結果輸出
結果可導出Excel表格或報告生成自定義
用戶可自定義統計分析格式
包括統計分析數據
獲取樣品圖象到報告中
X射線熒光鍍層測厚儀/x-ray測厚儀/熒光光譜測厚儀X-strata 920樣品臺介紹：
1、加深樣品臺
高度每半英寸(12.7mm)可調，架構式樣品艙可容納zui大高度6.3"(160mm)的樣品
2、固定樣品臺
樣品臺位置固定，經濟、實用，平面樣品臺設計，適合高，度不超過1.3"(33mm)的樣品分析
3、程控樣品臺
用于自動化測量，方便根據測試位置放置樣品，并精準定位測量點，樣品臺尺寸：22"(D) x 24"(w)，即560mm (深) x 610mm (寬)，程控臺移動距離：7" x 7"，即178mm x 178mm
X射線熒光鍍層測厚儀/x-ray測厚儀/熒光光譜測厚儀X-strata 920符合以下標準：
ASTM B568: X射線光譜儀測量鍍層厚度的標準測試方法
ISO 3497: 金屬鍍層 — X 射線光譜法測量鍍層厚度
可分析多種樣品形狀和尺寸
可分析多種樣品類型，從微小的電子元件到浴室配件
提供多種硬件供選配，滿足各種需要
射線熒光鍍層測厚儀/x-ray測厚儀/熒光光譜測厚儀X-strata 920應用行業如下：
1、電子行業 - 有效控制生產過程，提高生產力
分析電子件上的金和鈀的厚度，例如Au/Ni/Cu，Au/Pd/Ni/Cu
測量線路板上的可焊性，比如Ag/Cu/Epoxy
2、五金電鍍行業 - 電鍍表面處理的成本zui小化，產量zui大化
多樣品和多點分析
單層或多層厚度測量
鍍液成份分析
3、貴金屬/金屬合金 - 珠寶及其他合金的快速無損分析
分析及其他元素測定
貴金屬合金檢測
4、*性檢測 - 確保產品符合規格
測定有害物質從ppm級到高百分比級
有毒元素定量分析，例如檢測鎘、汞、鉛等含量是否符合規定
按照IEC62321進行RoHS篩選
對航空焊料可靠性鑒定進行高可靠檢測
5、新能源行業 - 確保產品有效*
光電池薄膜吸收層（如CIS, CIGS, CdTe）的成份分析
通過鍍層厚度分析優化導電性
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