激光全譜分析技術是基于激光脈沖聚焦到被測樣品上所產生的物質電離過程，電子的復合會發光，收集并研究該光譜就可以分析被測物質的成分。 該技術zui初是由美國 Los Alamos 國家實驗室的 David Cremers 研究小組在二十多年前發明的。從此以后，成功地被用于痕量元素的檢測和惡劣環境下的在線成分分析等應用中。
根據所分析的元素不同， 激光全譜分析技術可以探測到 ppm 到 ppt 級的含量。而且不需要對所測樣品進行預加工（如拋光，溶解等），可以分析固態和氣態樣品。