名稱：CT性能檢測模體（美國） 
型號：Catphan500  
  
CT性能檢測模體Catphan500儀器資料： 
  
    CatphanTM500型體模包括四個檢測模塊
1、CTP401：層厚、CT值線性與對比度標度
2、CTP528：高對比度分辨力
3、CTP515：低對比度分辨力
4、CTP486：場均勻性和噪聲

Catphan500介紹：
CTP401模塊
直徑15cm，厚2.5cm
內嵌兩組23°金屬斜線（X方向、Y方向）內嵌四個密度不同的小圓柱體
用于測量層厚、CT值線性參數
模體材料
1、特氟隆Teflon（高密度物質，類似骨頭，標準CT值：990）
2、丙稀（Acrylic，標準CT值：120）
3、低密度聚乙稀（LDPE，標準CT值：-100）
4、空氣（zui低密度，標準CT值：-1000）
此外體模材料本身可以作為第五種材料樣品。

CTP528空間分辨率
直徑15cm，厚4cm
21組高密度線對結構（放射狀分布）
用于測量空間分辨力，x軸、y軸和z軸的點測試到每厘米21線對）

CTP515密度分辨力
• 直徑15cm，厚4cm
• 內外兩組低密度孔徑結構（放射狀分布）
• 內層孔陣：對比度0.3%、0.5%、1.0%；直徑3、5、7、9mm
• 外層孔陣：對比度0.3%、0.5%、1.0%；直徑2、3、4 、5 、6 、7 、8 、9 、15mm
• 用于測量密度分辨力

CTP486模塊
直徑15cm，厚5cm
固體均勻材料，“固體水”
用于測量場均勻性、噪聲等參數

Catphan500檢 測 的 參 數
1. 層厚的測量
2. CT值線性的測量
3. 高對比度分辨力的測量
4. 低對比度分辨力的測量
5. 場均勻性的測量
6. 噪聲的測量
7. 水的CT值

一、 層 厚
測試方法：
1、用ROI測量斜線像鄰域的CT值L1
2、窗寬調到zui小，調高窗位，直至四條斜線像消失時記錄窗位L2
3、計算窗位：L=（L1+L2）/2
4、窗寬調到zui小，調節窗位到L，量得四條斜線的長度X
5、代入下列公式計算。
層厚測量公式：
利用CTP401模塊內2組23°斜線測量。取正切值
X/Z= tan 230
則斷層厚度Z（層厚）
Z = X×tg23°
  = X × 0.42

二、CT 值 線 性
1、線性定義：
樣本物質CT值與其對X射線衰減系數的線性關系。
2、測量原理：
利用CTP401模塊內四個小圓柱體內的樣本測量。四種樣本分別為Acrylic、Air、Teflon和LDPE，它們密不同，對X射線的衰減系數（u值）也不同，對應的CT值也不同。

三、空 間 分 辨 力
檢測方法
1、掃描CTP528模塊中心層面
2、同時調整窗寬和窗位,分辨zui小的一組線對
3、用目測或Profile功能確定所能分辨的zui高一級線對。
4、各線對所對應的空間分辨力由低到高分別為 1 LP/cm到21LP/cm（即5mm-0.24mm）。（5/n,n=線對數）
性能要求：
普通CT機在常規算法下為 5到7 LP/cm

四、密 度 分 辨 力
1、定義：
在目標物質與均質背景的X射線線性衰減系數相差小
于 1%時，CT機所能分辨目標物質的能力，通常以能
區分開的目標物質的zui小尺寸表示
2、檢測方法（一）
掃描CTP515模塊中心層面
同時調節窗寬和窗位
確定各對比度系列中所能分辨的zui小一級孔徑。
檢測方法（二）
用ROI測量背景信號目標和目標鄰域的CT值、標準偏差
窗寬=CT目標－CT背景+5SDMAX，其中SDMAX為目標和背
景CT值中的zui大SD
窗位=（CT目標+CT背景）/2；
調整窗寬窗位到測量所得的窗寬和窗位值，觀察圖像，
確定所能分辨的zui小一級低信號目標.
3、性能要求：
應能分辨到直徑為3或4mm的圓孔

五、場 均 勻 性
檢測方法：
1、常規條件下掃描CTP486模塊中心層面。
2、在中心用大于100象素的ROI（面積約為1cm2）測CT值。
3、用相同ROI在所得圖像邊緣1cm處取四點CT值。
4、邊緣對中心CT值的zui大偏差為場均勻性。
性能要求：
中心點CT值與四周CT值偏差不大于4HU

六、 噪 聲
定義：
均勻物質圖像在給定區域中的CT值對其平均值的變異。
一般用中心區域CT值的標準偏差來表示。
檢測方法：
常規條件下掃描CTP486模塊中心層面，測量所得圖像
中心區域的CT值標準偏差SD，則噪聲N=SD × 0.1%
性能要求：
噪 聲水平應不大于0.35%

七、水 的 CT 值
衡量CT值的準確性。也可用常規掃描CT所配的水模
來測量。
水的CT值：0
空氣的CT值：-1000