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產品簡介
詳細介紹
適用范圍
FDQ-0301激光顆粒分布測量儀是以物理學上富朗和菲衍射（Fraunhofer diffraction）和米氏散射( Mie scattering )為理論基礎。此理論可以簡單理解為：沿直線傳播的平行激光束，在傳播過程中遇到顆粒的遮擋后，發生了衍射和散射現象，并且大顆粒光散射角小，小顆粒光散射角大。見圖1-1為單個顆粒形成的衍射圖案，顆粒直徑越大，中心亮環越小，顆粒直徑越小，中心亮環越大。使用光電探測陣列在不同角度上接收光能，對于相應的角度，其光能是對應直徑的顆粒集合發生衍射（散射）造成的，相應其它角度上光能的強弱也就反應了對應直徑顆粒在整個顆粒集合中占有的比例，根據在不同角度上接收的散射光強弱，就可以反演出樣品的顆粒分布及各粒級間相對含量。
功能特點
1.多達82個采樣通道，提高了測試結果的分辨率；全部光電器件制作在同一個硅片上，保證了光電陣列的使用壽命；交叉扇形排列方式，加大了受光面積，提高了靈敏度；
2.微量進樣方式，采用蠕動泵的全自動循環進樣方式，采用虹吸泵自動循環進樣方式，滿足不同客戶的測試需求,儀器標配MS-01微量進樣裝置；
3.全量程單鏡頭測量，所有的光學組件都固定在加固的基座上，光學系統出廠前緊固好，使儀器性能更加穩定；
4.采用進口半導體激光器，具有使用壽命長，光學參數穩定，不怕振動等一系列優點，連續工作時間長達24個小時，滿足用戶連續大負荷測試的要求。
技術參數
1、測試范圍（um）：0.15-400 ；（0.4-1100、0.1-450、0.25-650 、0.4-1100）
2、重復性：<1%，再現性：<2%，系統誤差：<2%；
3、激光發生器：半導體激光器 λ=650nm,功率>3mw；
4、光學系統：平行光束；
5、軟件運行環境：Windows95/98/xpista；
6、計算機接口：USB2.0；
7、電源電壓：85-264V/50HZ/60HZ；
8、測試原理：激光散射；
9、采樣通道：82。
適用領域
各種非金屬粉：如重鈣、輕鈣、滑石粉、高嶺土、石墨、硅灰石、水鎂石、重晶石、云母粉、膨潤土、硅藻土、黏土等；
各種金屬粉：如鋁粉、鋅粉、鉬粉、鎢粉、鎂粉、銅粉以及稀土金屬粉、合金粉等；
其他粉體：如催化劑、水泥、磨料、醫藥、農藥、食品、涂料、染料、熒光粉、河流泥沙、陶瓷原料、化工原料、各種乳濁液等。