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應用
用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷
鍛件、鑄件
金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料
板材、棒材、方形材
容器、機器零件、殼體
特點
縱波單晶探頭
適合DGS缺陷評判
性能參數誤差小，適合高精度檢測
可更換保護膜，保護探頭不被磨損
柔性保護膜，即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上也能很好地耦合
合金壓鑄殼體，堅固耐用
用于高溫檢測時可加裝高溫延遲塊（定制產品）
系列 型號 頻率(MHZ) 接口方向 帶寬 晶片直徑 接口類型 保護膜
MBS MB1S 1 側裝 25 10mm Lemo 00 ES24
MB2S 2
MB2S-EN 2
MB4S 4
MB4S-EN 4
MB5S 5
MB6S 6
MB2S-O 2 頂裝
MB4S-O 4
MB5S-O 5
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