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當前位置：上海島韓實業(yè)有限公司>>技術(shù)文章>>簡述測厚儀的測量原理
測厚儀是用來測量物體厚度的儀器，它是利用微波和激光技術(shù)制成的。它分為激光測厚儀，X射線測厚儀，薄膜測厚儀等。測厚儀的測試方法主要有：磁性測厚法，放射測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。
它的測量原理：
器測量出從安裝支架到物體表面的距離，進而根據(jù)支架的固定距離計算得出物體的厚度。
激光束在被測物體表面上形成一個很小的光斑,成像物鏡將該光斑成像到光敏接收器的光敏面上,產(chǎn)生探測其敏感面上光斑位置的電信號。當被測物體移動時,其表面上光斑相對成像物鏡的位置發(fā)生改變,相應地其像點在光敏器件上的位置也要發(fā)生變化,進而可計算出被測物體的實際移動距離。 測厚儀的測試方法主要有：磁性測厚法，放射測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。
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