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日本新宇宙COSMOS XP-703D（自動吸引式）半導體特氣檢漏儀簡介: | ||||||||||||
| --于檢測半導體特氣的微量泄漏
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| 日本新宇宙COSMOS XP-703D（自動吸引式）半導體特氣檢漏儀技術參數：
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- TESTO/德國德圖
- 其他品牌
- KYORITSU/日本共立
- RAE/美國華瑞
- Phase/美國菲思圖
- TIME/北京時代
- AND/艾安得
- MEGGER/美國
- New Cosmos/日本新宇宙
- KIMO/法國凱茂
- RIKEN/日本理研
- TES/中國臺灣泰仕
- Multi/日本萬用
- FLUKE/福祿克
- ELCOMETER/英國易高
- OHAUS/奧豪斯
- Helmut Fischer/德國菲希爾
- SHIMPO/新寶
- ElektroPhysik/德國EPK
- 海創高科
- DeFelsko/美國狄夫斯高
- SIGLENT/鼎陽
- Hitachi/日立
- TeKtronix/美國泰克
- Faith/費思
- Proceq/瑞士博勢
- 博世
- Kanomax/日本
- HILTI/德國喜利得
- MarCal/德國馬爾
- FLIR/菲力爾
- SENTRY/中國臺灣先馳
- 香港希瑪
- ROTRONIC/羅卓尼克
- RION/日本理音
- Agilent/安捷倫
- OLYMPUS/奧林巴斯
- DESCO/美國
- 英思科
- Brookfield/博勒飛
- Qnix/德國尼克斯
- Bushnell/美國博士能
- INFICON/美國
- OPTEX/奧普士
- BS/百試
- Kleinwachter/德國科納
- HACH/哈希
- Honeywell/霍尼韋爾
- LANDTEK/蘭泰
- KETT/日本
- Motive/中國臺灣
- CENTER/中國臺灣群特
- CEM/香港
- ION/英國離子
- 3nh/三恩時
- 麥科信
- FOERSTER/德國
- MINOLTA/日本柯尼卡美能達
- 智博聯
- KANETEC/日本強力
