在各種應用的電流相對于電壓關系 (IV) 測量中，吉時利2400圖形化系列SMU儀器可以提供高效智能的解決方案。
圖：由吉時利2400系列源表組成的I-V 測試系統
吉時利2400圖形化系列SMU儀器把源功能和測量功能緊密整合到一臺儀器中，提供四象限精密電壓和電流源/負載，實用性強。
吉時利2400圖形化系列SMU儀器采用用戶熟悉的圖形界面，操作簡便。比如基于圖標的菜單結構，不管用戶經驗是否豐富，使用起來都非常簡便。
應用舉例
01
功率半導體的 I-V 檢定
圖：使用2450源表測試得出的I-V曲線
在碳化硅（SiC）和 氮化鎵（GaN）半導體設備開發的各階段， I-V 檢定起著重要的作用。首先，測試材料以確定適用性。再者，金氧半場效晶體管（MOSFET）等設備一經制造，必須在進行擊穿電壓、泄漏電流和斷開狀態電阻測試后才可將其安裝到電路板上。
覆蓋范圍廣，最高可達 1100V / 1A DC 20W
10 fA 測量分辨率
SCPI 和 TSP® 腳本編程模式
與 KickStart 軟件結合使用
02
光電池 I-V 檢定
圖：光電池測試
Keithley 2450型或2460型SourceMeter SMU儀器，能在提供電流和電壓的同時進行測量， 可以輕松生成太陽能電池和電池板的I-V檢定。
0.012％ 基本測量精度，具有 6? 位分辨率
全新 20mV 和 10nA 源/測量范圍提高了靈敏度
覆蓋范圍廣，最高可達 105V，7A DC/7A 脈沖，100W
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