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產(chǎn)品分類品牌分類
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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
標(biāo)準(zhǔn)試塊CSK-IA，CSK-IIA，超聲波試塊CSK-IIIA
標(biāo)準(zhǔn)試塊CSK-IA，CSK-IIA，超聲波試塊CSK-IIIA簡介：
CSK系列超聲波試塊廣泛用于電力、石化、機(jī)械等行業(yè)的無損檢測
CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIIA、CSK-IVA、CSK-IB超聲波試塊，同時(shí)供應(yīng)CSK-IA試塊支架，CSK-IIIA試塊翻轉(zhuǎn)架、CSK-IB試塊支架。
（1）:CSK-IA是我國鍋爐和鋼制壓力容器對(duì)焊縫超聲波探傷JB1152-81標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)試塊，是基于IIW試塊改進(jìn)得到的。
①、臺(tái)階孔ø50、ø44、ø40，便于測定橫波斜探頭的分辨力；
②、R100、R50階梯圓弧，便于調(diào)整橫波掃描速度和探測范圍；
③、標(biāo)定的折射角開為K值（K=tgβ），可直接測出橫波斜探頭的K值。
（2）:CSK-IIA是國家行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊，CSK-IIA適用于壁厚范圍為8-120mm的焊縫。
（3）CSK-IIIA超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊
型號(hào):CSK-IIIA
材質(zhì):20#
公稱尺寸:（mm）300×150×30
行位公差（國標(biāo)）:±0.10×0.05×0.05
（⊥）: ⊥＜0.05
（‖） :‖＜0.03
（Ra）: Ra≤3.2
7-直徑1×6:行位公差±0.10
2-R10: 行位公差±0.10
V-1荷蘭試塊 的詳細(xì)介紹
V-1荷蘭試塊
標(biāo)準(zhǔn)試塊 IS02400-1972E
IIW試塊（V-1試塊）也叫荷蘭試塊。是由焊接學(xué)會(huì)（IIW）通過，標(biāo)準(zhǔn)化組織（ISO）*使用的標(biāo)準(zhǔn)試塊。材質(zhì)：不銹鋼、鋁合金
標(biāo)準(zhǔn)試塊CSK-IA，CSK-IIA，超聲波試塊CSK-IIIA使用要點(diǎn)：
1、 利用試塊厚25mm可測定探傷儀的動(dòng)態(tài)范圍、水平線性及調(diào)整縱波探測范圍
2、 利用Φ50和圓弧和Φ1.5通孔測定斜探頭折射角及縱波直探頭的靈敏度余量；還可粗略估計(jì)直探頭的盲區(qū)大小及測定儀器與探頭組合后的穿透能力
3、 利用R100mm圓弧面測定斜探頭的入射點(diǎn)和盲區(qū)，并可校正時(shí)間軸比例和零點(diǎn)。
4、 利用測距為85mm、91mm和100mm三個(gè)槽口平面可測定直探頭的縱向分辨力
5、 利用試塊的直角棱邊測定斜探頭聲束偏斜角
CS-1-5試塊
CS-1-5*標(biāo)準(zhǔn)工務(wù)探傷試塊
CS-1-5試塊特點(diǎn)：
材質(zhì)45#鋼，Φ2平底孔，聲程200mm*標(biāo)準(zhǔn)工務(wù)探傷試塊*標(biāo)準(zhǔn)工務(wù)探傷試塊*標(biāo)準(zhǔn)工務(wù)探傷試塊*標(biāo)準(zhǔn)工務(wù)探傷試塊。
試塊支架用來支撐試塊，以避免其受到外界損壞。
RB-1、RB-2、RB-3為系列試塊，分別適合8-25、8-100和8-150mm的板厚，其標(biāo)準(zhǔn)反射體為Φ3mm×40mm的橫通孔
RB-1、RB-2、RB-3標(biāo)準(zhǔn)試塊主要用途：
1、 繪制距離—波幅曲線
2、 調(diào)整探測范圍和掃描速度
3、 測定斜探頭的K值
CSK-IB試塊在原有CSK-IA的基礎(chǔ)上增加了測試探頭折射角的刻度面。主要用途：
1.利用R100曲面測定斜探頭的入射點(diǎn)和前沿長度
2.利用Φ50和1.5mm圓孔測定斜探頭的折射角
3.利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況
4.利用25mm厚度測定探傷儀水平線性、垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍
5.利用25mm厚度調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度
6.利用R50和100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度
7.利用Φ50、44和40三個(gè)臺(tái)階孔測定斜探頭分辨力
產(chǎn)品名稱：縱波直探頭試塊
產(chǎn)品型號(hào)：CBI-1#-2#、3#-4#試塊
產(chǎn)品類別：超聲波試塊
產(chǎn)品性質(zhì)：綜合經(jīng)營產(chǎn)品
產(chǎn)品資料：供應(yīng)縱波直探頭試塊及縱波雙晶直探頭試塊，有意者請(qǐng)與本公司。
試塊支架用來支撐試塊，以避免其受到外界損壞。
標(biāo)準(zhǔn)試塊CSK-IA，CSK-IIA，超聲波試塊CSK-IIIA--其他規(guī)格：
| 試塊 | CSK-IA |
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| 試塊 | CSK-IIA |
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| 試塊 | CSK-IIIA |
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| 試塊支架 | CSK-IA |
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| 試塊翻轉(zhuǎn)架 | CSK-IIIA |
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| 試塊 | CSK-IVA |
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| 試塊 | CSK-IB |
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| 試塊支架 | CSK-IB |
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| 試塊 | RB-1 |
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| 試塊 | RB-2 |
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| 試塊翻轉(zhuǎn)架 | RB-2 |
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| 試塊 | RB-3 |
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| 試塊翻轉(zhuǎn)架 | RB-3 |
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| 荷蘭試塊V-1 | V-1（IIW1） |
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| 試塊支架 | V-1 |
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| 牛角試塊 | V-2（IIW2） |
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| 板厚≤20㎜雙晶直探頭試塊 |
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| 板厚＞20㎜單直探頭試塊 | 1＃--4＃ |
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| 5＃--6＃ |
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| 縱波直探頭試塊 | 1＃--2＃ |
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| 3＃--4＃ |
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| 縱波雙晶直探頭試塊 |
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| 試塊 | SD-I |
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| 試塊 | SD-IIa、b |
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| 試塊 | SD-III |
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| 試塊 | SD-IV |
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| 小徑管試塊 | DL-1 |
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| 螺栓試塊 | LS-1 |
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| 螺栓試塊 | LS-2 |
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| 螺栓探頭 | 5p7×12 4° |
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| 螺栓探頭 | 5p9×9 4° |
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| 螺栓探頭 | 5p13×13 4° |
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| 螺栓探頭 | 5p8×12 k1.7 |
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| 螺栓探頭 | 2.5p8×12 k1.7 |
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| 試塊 | TP-1 |
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| 試塊 | TP-2 |
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| 試塊 | TP-3 |
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| 半圓試塊 | SH-1 |
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| 靈敏度試塊 | CS-1 |
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| 護(hù)環(huán)試塊 | A |
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| 石油標(biāo)準(zhǔn)試塊 | SGB 1＃～6＃ |
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| 試塊 | RB-T |
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| 試塊 | RB-Z |
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| 階梯試塊（射線） |
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| 鋼網(wǎng)架試塊 | CSK－1C |
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| 鋼網(wǎng)架試塊 | RBJ－1 |
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| 鋼焊縫手工超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊 GB/T 11345-89 | |||
| CSK-1B |
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| CSK-IB 試塊支架 | |||
| RB-1 | |||
| RB-2 | |||
| RB-2翻轉(zhuǎn)架 | |||
| RB-3 | |||
| RB-3翻轉(zhuǎn)架 | |||
| 雙晶直探頭試塊 | 板厚≤20mm |
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| 單晶直探頭試塊 | 板厚 >21mm | 試塊附件 |
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| 縱波直探頭試塊 |
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| 鋼翻轉(zhuǎn)支架 | 適用CSK-ⅢA |
| 曲面鋼板試塊 |
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| 適用RB-3 | |
| 復(fù)合鋼板試塊 |
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| 小徑管底座 | DL-1 |
| 奧氏體鋼鍛件試塊 |
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| 標(biāo)準(zhǔn)試塊 | CSK-ⅠA |
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| CSK-ⅡA |
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| CSK-ⅢA |
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| CSK-ⅣA |
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| 對(duì)比試塊 | T1 |
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| T2 |
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| T3 |
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| 鋁合金試塊 |
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| 測厚試塊 |
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標(biāo)準(zhǔn)試塊CSK-IA，CSK-IIA，超聲波試塊CSK-IIIA――試塊檢測報(bào)告:
| 超聲波探傷 | |||
| 檢測儀器 | CTS-26 | 探頭 | 2.5P直徑20 |
| 檢測部位 | 平面 | 耦合劑 | 機(jī)油 |
| 增益 | 80% | 抑制 | 關(guān) |
| 衰減 | 42db | ||
| 探傷結(jié)果 | 材質(zhì)均勻,無雜質(zhì),無影響使用缺陷. | ||
| 試塊材質(zhì)符合GB/T699-1999（優(yōu)質(zhì)碳素結(jié)構(gòu)鋼）標(biāo)準(zhǔn)要求. | |||
| 金相分析:晶粒度7-8級(jí) | |||
標(biāo)準(zhǔn)試塊CSK-IA，CSK-IIA，超聲波試塊CSK-IIIA
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