您好, 歡迎來(lái)到化工儀器網(wǎng)
產(chǎn)品分類(lèi)品牌分類(lèi)
-
數(shù)字直流電橋 數(shù)字微歐計(jì) 電阻測(cè)試儀 電阻分選儀 直流電阻電橋 直流電阻箱，直流電阻器 直流標(biāo)準(zhǔn)電阻 直流電位差計(jì) 轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān) 變壓比電橋 低電阻校準(zhǔn)儀 其它測(cè)試儀器 電阻模擬器 交、直流電阻箱 直流檢流計(jì) 匝間絕緣測(cè)試儀 匝間沖擊耐壓儀 線(xiàn)圈測(cè)量?jī)x 電力、電纜測(cè)試儀 標(biāo)準(zhǔn)器產(chǎn)品 自動(dòng)旋光儀 數(shù)字熔點(diǎn)儀 阿貝折射儀 應(yīng)力儀 可見(jiàn)分光光度計(jì) 紫外分光光度計(jì) 直流穩(wěn)壓電源 交流穩(wěn)壓電源 晶體管特性圖示儀 數(shù)字示波器 半導(dǎo)體芯片
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
探傷試塊RB-1，超聲試塊RB-2，RB-3標(biāo)準(zhǔn)試塊
探傷試塊RB-1，超聲試塊RB-2，RB-3標(biāo)準(zhǔn)試塊主要用途：
1、 繪制距離—波幅曲線(xiàn)
2、 調(diào)整探測(cè)范圍和掃描速度
3、 測(cè)定斜探頭的K值。
CSK-IB試塊在原有CSK-IA的基礎(chǔ)上增加了測(cè)試探頭折射角的刻度面。
1.利用R100曲面測(cè)定斜探頭的入射點(diǎn)和前沿長(zhǎng)度
2.利用Φ50和1.5mm圓孔測(cè)定斜探頭的折射角
3.利用試塊直角棱邊測(cè)定斜探頭聲束軸線(xiàn)的偏離情況
4.利用25mm厚度測(cè)定探傷儀水平線(xiàn)性、垂直線(xiàn)性和動(dòng)態(tài)范圍
5.利用25mm厚度調(diào)整縱波探測(cè)范圍和掃描速度
6.利用R50和100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測(cè)范圍和掃描速度
7.利用Φ50、44和40三個(gè)臺(tái)階孔測(cè)定斜探頭分辨力
產(chǎn)品名稱(chēng)：縱波直探頭試塊
產(chǎn)品型號(hào)：CBI-1#-2#、3#-4#試塊
產(chǎn)品類(lèi)別：超聲波試塊
產(chǎn)品性質(zhì)：綜合經(jīng)營(yíng)產(chǎn)品
產(chǎn)品資料：供應(yīng)縱波直探頭試塊及縱波雙晶直探頭試塊，有意者請(qǐng)與本公司。
試塊支架用來(lái)支撐試塊，以避免其受到外界損壞。
探傷試塊RB-1，超聲試塊RB-2，RB-3標(biāo)準(zhǔn)試塊--其他規(guī)格：
| 試塊 | CSK-IA |
| |
| 試塊 | CSK-IIA |
| |
| 試塊 | CSK-IIIA |
| |
| 試塊支架 | CSK-IA |
| |
| 試塊翻轉(zhuǎn)架 | CSK-IIIA |
| |
| 試塊 | CSK-IVA |
| |
| 試塊 | CSK-IB |
| |
| 試塊支架 | CSK-IB |
| |
| 試塊 | RB-1 |
| |
| 試塊 | RB-2 |
| |
| 試塊翻轉(zhuǎn)架 | RB-2 |
| |
| 試塊 | RB-3 |
| |
| 試塊翻轉(zhuǎn)架 | RB-3 |
| |
| 荷蘭試塊V-1 | V-1（IIW1） |
| |
| 試塊支架 | V-1 |
| |
| 牛角試塊 | V-2（IIW2） |
| |
| 板厚≤20㎜雙晶直探頭試塊 |
|
| |
| 板厚＞20㎜單直探頭試塊 | 1＃--4＃ |
| |
| 5＃--6＃ |
| ||
| 縱波直探頭試塊 | 1＃--2＃ |
| |
| 3＃--4＃ |
| ||
| 縱波雙晶直探頭試塊 |
|
| |
| 試塊 | SD-I |
| |
| 試塊 | SD-IIa、b |
| |
| 試塊 | SD-III |
| |
| 試塊 | SD-IV |
| |
| 小徑管試塊 | DL-1 |
| |
| 螺栓試塊 | LS-1 |
| |
| 螺栓試塊 | LS-2 |
| |
| 螺栓探頭 | 5p7×12 4° |
| |
| 螺栓探頭 | 5p9×9 4° |
| |
| 螺栓探頭 | 5p13×13 4° |
| |
| 螺栓探頭 | 5p8×12 k1.7 |
| |
| 螺栓探頭 | 2.5p8×12 k1.7 |
| |
| 試塊 | TP-1 |
| |
| 試塊 | TP-2 |
| |
| 試塊 | TP-3 |
| |
| 半圓試塊 | SH-1 |
| |
| 靈敏度試塊 | CS-1 |
| |
| 護(hù)環(huán)試塊 | A |
| |
| 石油標(biāo)準(zhǔn)試塊 | SGB 1＃～6＃ |
| |
| 試塊 | RB-T |
| |
| 試塊 | RB-Z |
| |
| 階梯試塊（射線(xiàn)） |
|
| |
| 鋼網(wǎng)架試塊 | CSK－1C |
| |
| 鋼網(wǎng)架試塊 | RBJ－1 |
| |
| 鋼焊縫手工超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊 GB/T 11345-89 | |||
| CSK-1B |
| ||
| CSK-IB 試塊支架 | |||
| RB-1 | |||
| RB-2 | |||
| RB-2翻轉(zhuǎn)架 | |||
| RB-3 | |||
| RB-3翻轉(zhuǎn)架 | |||
| 雙晶直探頭試塊 | 板厚≤20mm |
|
|
|
| 單晶直探頭試塊 | 板厚 >21mm | 試塊附件 |
|
|
| 縱波直探頭試塊 |
|
| 鋼翻轉(zhuǎn)支架 | 適用CSK-ⅢA |
| 曲面鋼板試塊 |
|
| 適用RB-3 | |
| 復(fù)合鋼板試塊 |
|
| 小徑管底座 | DL-1 |
| 奧氏體鋼鍛件試塊 |
|
|
|
|
| 標(biāo)準(zhǔn)試塊 | CSK-ⅠA |
|
|
|
| CSK-ⅡA |
|
|
| |
| CSK-ⅢA |
|
|
| |
| CSK-ⅣA |
|
|
| |
| 對(duì)比試塊 | T1 |
|
|
|
| T2 |
|
|
| |
| T3 |
|
|
| |
| 鋁合金試塊 |
|
|
|
|
| 測(cè)厚試塊 |
|
|
|
|
探傷試塊RB-1，超聲試塊RB-2，RB-3標(biāo)準(zhǔn)試塊――試塊檢測(cè)報(bào)告:
| 超聲波探傷 | |||
| 檢測(cè)儀器 | CTS-26 | 探頭 | 2.5P直徑20 |
| 檢測(cè)部位 | 平面 | 耦合劑 | 機(jī)油 |
| 增益 | 80% | 抑制 | 關(guān) |
| 衰減 | 42db | ||
| 探傷結(jié)果 | 材質(zhì)均勻,無(wú)雜質(zhì),無(wú)影響使用缺陷. | ||
| 試塊材質(zhì)符合GB/T699-1999（優(yōu)質(zhì)碳素結(jié)構(gòu)鋼）標(biāo)準(zhǔn)要求. | |||
| 金相分析:晶粒度7-8級(jí) | |||
探傷試塊RB-1，超聲試塊RB-2，RB-3標(biāo)準(zhǔn)試塊
歡迎光臨本公司：
：www.yz5117。。ｃｏｍ
：www.mach17。。ｃｏｍ
：www.ah17。。ｃｏｍ
：
：張傳學(xué)