納米激光粒度儀是記錄粒度的理想工具，通過利用新的粒度損失分析器功能，*的自動趨勢分析能讓您快速發現不同時間出現的變化。
作為粉體檢測設備，納米激光粒度儀常常會面對多塵環境，測試窗口鏡片則是會直接接觸粉體樣品的光學器件。聚焦透鏡或者準直透鏡等光學鏡片受到使用環境中的浮塵污染或者發生霉菌污染，會使純凈的測量光束產生雜散光。這些雜散光會混入樣品的散射光中干擾測試；測量窗口鏡片上的污染物則會直接產生較強的散射光。因此，光學鏡片污染是激光粒度儀測試結果漂移的首要元兇。應對辦法主要是盡量讓儀器處于干燥無塵的工作環境。經常按照操作規程清洗鏡片，保證光學鏡片的清潔。
光電探測器及其放大電路參數漂移：這類問題應該屬于儀器制造質量水平問題，，一般來說任何電子電路和光電探測器都有工況漂移問題，差別只是漂移量不同。這類問題通常儀器用戶自己是無法解決的，需要儀器制造商對儀器進行專門的電路工況系數校準。某些高水平的儀器，能夠自行校準自身電路工況漂移。
測量參數、測量條件變動：分析模型、樣品測量參數、測試環境(例如濕度、測試介質溫度等)都有可能影響測試數據。我們首先要保證測試的分析模型、樣品測量參數(特別是樣品折射率)選擇正確。測試環境的影響，視不同樣品和儀器工作環境不同，影響也差別很大，很難簡單舉例說明。需要具體情況具體分析。
激光光路偏移：激光器是會發熱的器件，工作周期內，它們會周而復始的發熱-降溫-發熱。任何物體都會有熱脹冷縮現象，幾何尺寸會隨溫度變化而變化。而激光粒度儀光路裝配精度要求非常高，隨著儀器使用周期延長，光路幾乎不可避免的會出現偏移現象。光路偏移，會導致測量光束光能衰減、探測器排布角度發生漂移，從而導致測量數據漂移。應對這個問題主要靠儀器制造商從儀器設計上盡量減少出現光路偏移的可能性，同時定期校準光路也是非常重要的辦法。
進樣系統的循環、分散效能波動這個環節導致的數據漂移比較隱蔽，所以容易被忽視。樣品循環系統使用的介質特性、介質流速(干法儀器而言則是氣壓和氣流量)、超聲分散設備的工況、水泵轉速這幾個要點會明顯影響測試數據，需要細心關注。
納米激光粒度儀使用注意的細節：
1、測量單元預熱；在*開機，或關機超過半小時再重復開機時需要預熱。
2、系統對中；系統對中就是把激光束的中心與環形光電探測器的中心調成一致。
3、系統參數設置；在主菜單下，用鼠標左鍵單擊“文件”，屏幕上彈出“文件”子菜單。再用鼠標左鍵單擊“重新開始”，屏幕繼續彈出“系統參數設置”欄。在該欄上輸入：超聲時間、測試人等項內容。
4、樣品準備；樣品準備是指從待測的粉體材料中有代表性地取出適當的數據作測量樣品，選取適當的懸浮液和分散劑，將樣品與懸浮液混合，并讓樣品顆粒在懸浮液中充分分散，而又不與懸浮液和分散劑發生化學反應的過程。
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