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超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊 著色滲透探傷劑/顯像劑/滲透劑/清洗劑 磁粉檢測(cè)試塊/磁粉探傷試塊 磁粉探傷耗材 移動(dòng)式磁粉探傷儀 多用磁粉探傷儀 磁粉磁軛探傷儀/磁探儀 X射線(xiàn)報(bào)警儀/個(gè)人計(jì)量?jī)x 暗室紅燈/三色燈/警告燈 超聲波探傷儀/測(cè)厚儀 退磁機(jī)/線(xiàn)圈退磁器 冷熱觀片燈/工業(yè)評(píng)片燈 強(qiáng)度計(jì)/特斯拉計(jì)/高斯計(jì) 數(shù)顯黑白密度計(jì)/密度片 超聲波探傷耗材 射線(xiàn)探傷耗材 磁粉、磁膏、磁懸液 高強(qiáng)度紫外線(xiàn)燈 熒光探傷燈 紫外線(xiàn)黑光燈/LED黑光燈/熒光探傷燈 工業(yè)X光膠片 JB行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)試塊 CSK-IA超聲波試塊 焊縫自然缺陷試塊 超聲波檢測(cè)試塊 *標(biāo)準(zhǔn)試塊與其他*標(biāo)準(zhǔn)試塊 工業(yè)恒溫洗片機(jī)、干片機(jī) 進(jìn)口 超聲波耦合劑 其它
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
C1型磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片
C1型靈敏度試片zui先由日本無(wú)損檢測(cè)學(xué)會(huì)提出，以后為多個(gè)國(guó)家使用，主要用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對(duì)幾何形狀復(fù)雜，不同材質(zhì)的工作，可以正確地選擇磁化規(guī)范，并可檢查探傷設(shè)備，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過(guò)程中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向，并對(duì)顯示缺陷的磁場(chǎng)強(qiáng)度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者*的調(diào)試工具。
特點(diǎn)：
試片用于磁粉顯示，圖象直觀，使用簡(jiǎn)便。對(duì)各類(lèi)零件所有方向的磁場(chǎng)，尤其檢查部位狹小、形狀復(fù)雜的零件時(shí)，表現(xiàn)其*的優(yōu)點(diǎn)。
性能規(guī)格：
我公司生產(chǎn)的C1型標(biāo)準(zhǔn)試片，是一種消耗的調(diào)整磁粉 探傷靈敏度試片，它分為C1型和C2型，它可以在任何幾 何形狀復(fù)雜的工件上探傷，尤其在焊縫的坡口面上及狹小 部分，更能顯示它的優(yōu)點(diǎn)。 C型標(biāo)準(zhǔn)試片相當(dāng)于A型試片中2#試片的靈敏度等同，它的磁化規(guī)范相當(dāng)于8-10D，并可用作鑒定探傷設(shè)備、磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷過(guò)程中，可以避免誤判或漏檢。C型標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片，是磁粉探傷工作者*的調(diào)試工具。
本套試片包括：C1： 8/50μ C2： 15/50μ 共六片，分兩組不同規(guī)格的試片組成
使用方法：
1、使用C1型時(shí)，沿者分割線(xiàn)，剪開(kāi)為5x10mm的小片，使用適當(dāng)?shù)碾p面膠帶，或者膠粘劑貼于試樣表面（雙面膠帶厚度要小于100μm）。
2、使用連續(xù)法，顯示磁痕，即是工件所需靈敏度。
3、使用C2型試片時(shí)，剪開(kāi)C字為正，也可不剪開(kāi)，以缺口為磁場(chǎng)方向，顯示痕跡，即是工件所需靈敏度。上述步驟完畢后，貼在工件表面上的試片，即可清楚顯示磁痕。
注意事項(xiàng)：
1、試片使用前，用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表面的油漬擦去，再用膠帶紙緊密地貼在工件上，保證試片與被檢面接觸良好。
2、試片用后請(qǐng)涂防銹油。
3、試片有銹蝕、褶折或磁特性發(fā)生改變時(shí)不得繼續(xù)使用。
C型 磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片