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鏡臺測微尺/物鏡/目鏡尺
閱讀：4271 發布時間：2009-2-9
鏡臺測微尺（Stage Graticules）
產品由上海越磁電子科技有限公司現貨供應
一、標準型
鋁質機座，
玻片尺寸：75mm x 24mm x 2mm
透射照明型
這種測微計本身受到一個微型防護玻璃罩保護，防護玻璃罩對應于樣品替代的位置。大多數顯微鏡通過透射光的玻璃防護罩檢測樣品進行校準。校準距離長度為1.0mm。
反射照明型
我們建議這種產品用于金相光學顯微鏡。因為大多數金相學樣品不使用玻璃防護罩進行檢測，而這種鏡臺測微計沒有防護罩。因此人們也考慮發生偶然事故時儀器表面的保護。校準距離長度為1.0mm
這種測微計本身受到一個微型防護玻璃罩保護，防護玻璃罩對應于樣品替代的位置。大多數顯微鏡通過透射光的玻璃防護罩檢測樣品進行校準。校準距離長度為1.0mm。
反射照明型
我們建議這種產品用于金相光學顯微鏡。因為大多數金相學樣品不使用玻璃防護罩進行檢測，而這種鏡臺測微計沒有防護罩。因此人們也考慮發生偶然事故時儀器表面的保護。校準距離長度為1.0mm
二、認證型
PS型號的鏡臺測微尺每一個都是有認證證書的，經過英國國家物理實驗室（NPL）或英國*認證委員會（UKAS）鑒定的。適合于光學測量儀器的校準，適用于所有的光學顯微鏡；其外的不銹鋼框架，可以保證更高的精度和更長的壽命。保存于木質盒內。
透射照明型
這種測微計本身受到一個微型防護玻璃罩保護，防護玻璃罩對應于樣品替代的位置。大多數顯微鏡通過透射光的玻璃防護罩檢測樣品進行校準。校準距離長度為1.0mm。
反射照明型
我們建議這種產品用于金相光學顯微鏡。因為大多數金相學樣品不使用玻璃防護罩進行檢測，而這種鏡臺測微計沒有防護罩。因此人們也考慮發生偶然事故時儀器表面的保護。校準距離長度為1.0mm
這種測微計本身受到一個微型防護玻璃罩保護，防護玻璃罩對應于樣品替代的位置。大多數顯微鏡通過透射光的玻璃防護罩檢測樣品進行校準。校準距離長度為1.0mm。
反射照明型
我們建議這種產品用于金相光學顯微鏡。因為大多數金相學樣品不使用玻璃防護罩進行檢測，而這種鏡臺測微計沒有防護罩。因此人們也考慮發生偶然事故時儀器表面的保護。校準距離長度為1.0mm
小常識：
顯微鏡測微尺（Microscope Graticules）主要分為兩種：目鏡測微尺（目微尺，Eyepiece Graticules）和鏡臺測微尺（載臺測微尺，臺測微尺，Stage Graticules）。
鏡臺測微尺，它的外形和載玻片相似,*部分印有一條微細的標尺,標尺全長1mm分*格,每一大格又分成10小格,因此每小格的長度是0.01mm即10μ.標尺的外圍有一黑色的小圓環,以便在顯微鏡下尋找標尺的位置.標尺上面往往附有一個圓形的蓋玻片以資保護.也有的標尺*格中僅*大格分成10小格的.還有的標尺全長2mm分成20大格,其中僅*大格分成10小格的.鏡臺測微尺是顯微長度測量的標準,它并不直接用來測量物體的長度,而是用來校正目鏡測微尺和其它有關的測量工具的,它的質量好壞對各種顯微測量以及顯微繪畫放大倍率的計算等都有很大的關系.因此,應選擇刻度線條纖細,均勻而清晰的,長度準確性可靠的進行核對。
目鏡測微尺，簡稱目微尺，它是放在目鏡內的標尺，是一個圓形的小玻片，外型類似于圓形蓋玻片，較蓋玻片稍厚。目鏡測微尺以免印有標尺，一般1cm分為100個小格，也有全長5mm分為50個小格的。使用時，擰開目鏡的上透鏡，把測微尺輕輕放在中部的環形光闌上，注意有刻度的面朝下（避免標尺數字讀起來是反的）。
目鏡測微尺是直接來測量物體的長度的，但是它的刻度所代表的長度依著顯微鏡的放大輩數而改變的。因此使用目鏡測微尺前必須用臺測微尺來進行校正，以確定目鏡測微尺上的每一小格所代表的實際長度。
校正的方法是將目微尺放入目鏡內,插入境筒,必要時轉動目鏡上透鏡,至能清楚地看到標尺為止,再將臺微尺放在鏡臺上,用低倍鏡找到臺微尺的刻度并適當調焦到能同時看清目微尺和臺微尺的刻度.轉動目鏡使兩種標尺相互平行.再移動臺微尺,使位于目微尺的稍下方,并使兩種標尺的一端刻線互相對齊并重疊,然后觀察并記錄臺微尺的另一端與目微尺另一端那一根刻度對其并重疊,數一數兩者對其后各自的個數并計算.例如:假設在用6×目鏡和10×物鏡,鏡筒不伸長時,目微尺和臺微尺對齊后,看到臺微尺100小格=目微尺60小格,又知臺微尺100小格=1000μ,側目微尺一小格所代表的長度（校正值）=1000÷60=16.7μ.。使用40×物鏡,其余不變,此時由于放大倍數的增加,視野縮小,只能看到臺微尺的一部分.對齊后看到目微尺100小格=臺微尺38小格即380μ,此種情況下目微尺一小格所代表的長度（校正值）=380μ÷100=3.8μ.
進行校正時,如果一根標尺的末端刻線與另一根標尺的刻線不對齊重疊,可改變鏡筒長度 使之對齊重疊.如筒長不能改變,則可在標尺末端刻線附近尋找另一對互相重疊的刻線,如前記錄并計算。
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| C系列顯微鏡用測微尺 | |
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| C3 型0.1尺形目鏡測微尺5/50 | |
| C2 型（根下2的n次方）網形目鏡測微尺（根下2的n次方）×L/200 | |
| C1 型物鏡測微尺1/100 |