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邁可諾技術有限公司
主營產品： 美國Laurell勻膠機,WS1000濕法刻蝕機,Cargille光學凝膠,EDC-650顯影機,NOVASCAN紫外臭氧清洗機 |
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主營產品： 美國Laurell勻膠機,WS1000濕法刻蝕機,Cargille光學凝膠,EDC-650顯影機,NOVASCAN紫外臭氧清洗機 |
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| 產品圖片 | 產品名稱 | |||
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TFL-40VUVP 單波長高性能紫外透射儀 簡單介紹：所有高性能紫外透射儀均包括25瓦紫外線管，共提供100瓦的輝煌紫外線照明。 提供高UV輸出和強度，無閃爍，快速 燈啟動和減少電力消耗 不銹鋼框架便于清潔 產品型號：TFL-40V 所在地：北京市 更新時間：2024-05-17 |
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M-10EUVP 迷你臺式透射儀 簡單介紹：所有UVP透照儀都在過濾器的整個工作表面上提供透明熒光材料的背照區域。 紫外透射儀配有紫外線阻擋罩，可防止紫外線輻射?；厥峭坑懈咂焚|，防刮粉末涂層。 型號包括不銹鋼頂部組件或粉末涂料。 產品型號：M-10E 所在地：北京市 更新時間：2024-05-17 |
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LM-20/LM-26UVP 臺式紫外透射儀2UV 簡單介紹：所有UVP透照儀都在過濾器的整個工作表面上提供透明熒光材料的背照區域。 紫外透射儀配有紫外線阻擋罩，可防止紫外線輻射?；厥峭坑懈咂焚|，防刮粉末涂層。 型號包括不銹鋼頂部組件或粉末涂料。 產品型號：LM-20/LM-26 所在地：北京市 更新時間：2024-05-17 |
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LMS-20/LMS-26UVP 臺式紫外透射儀3UV 簡單介紹：3UV 臺式型號 UVP的3UV臺式透射儀 允許選擇8瓦長波，中頻或短波在一個緊湊的單位 *的3UV臺式模型 允許研究人員之間切換254,302或365nm紫外波長一個單元。 產品型號：LMS-20/LMS-26 所在地：北京市 更新時間：2024-05-17 |
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FI26X/FI-20/FI-26UVP 紫外線交聯儀 簡單介紹：所有UVP透照儀都在過濾器的整個工作表面上提供透明熒光材料的背照區域。 紫外透射儀配有紫外線阻擋罩，可防止紫外線輻射。基地是涂有高品質，防刮粉末涂層。 型號包括不銹鋼頂部組件或粉末涂料。 產品型號：FI26X/FI-20/FI-26 所在地：北京市 更新時間：2024-05-17 |
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SPS手動系列MicroXact手動探針臺 簡單介紹：SPS-1000，SPS-2000和SPS-2200系統是MicroXact首要的手動探針臺，設計靈活且易于使用。這些手動探針系統的高性能和經濟性使它們屬于自己的一類。憑借高達200mm的晶圓功能，DC或RF探頭和可選的熱卡盤以及各種屏蔽選項，我們的探針臺可用于廣泛的應用，例如故障分析，可靠性測試，IV / CV測試，低目前的測試，微波和射頻表征等等。 產品型號：SPS手動系列 所在地：北京市 更新時間：2024-05-17 |
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SPS-HS系列MicroXact高速半自動化探針臺 簡單介紹：隨著半導體變得越來越小和越來越復雜，有必要更密切地監控和控制生產，特別是在該過程的更上游。使用MicroXact的半自動探針臺進行的晶圓級可靠性測試通過一系列壓力測試收集數據，以識別可能影響器件長期可靠性的不規則性。盡管并非總是需要，但在晶片級可靠性測試之后可以進行進一步的和廣泛的故障分析。 系統構建在一個重型，通用的平臺上，能夠配置為處理各種探測應用。 產品型號：SPS-HS系列 所在地：北京市 更新時間：2024-05-17 |
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SPS-HP系列MicroXact高精度半自動化探針臺 簡單介紹：SPS 2600-HP，SPS 2800-HP和SPS 12000-HP系列系統是MicroXact的半自動探針臺，設計靈活，易于使用，可用于高效設備表征，晶圓級可靠性測試和故障分析。這些半自動探針臺系統設計用于支持多200mm晶圓的手動和半自動探測。 產品型號：SPS-HP系列 所在地：北京市 更新時間：2024-05-17 |
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SPS系列MicroXact標準半自動探針臺 簡單介紹：MicroXact的半自動探針臺提供多種選擇，包括加熱/冷卻晶圓卡盤，標準或數字顯微鏡以及可編程平臺分度，為您的所有高效設備表征提供經濟高效且易于使用的解決方案。晶圓級可靠性測試需求。這些半自動探針臺有三種選擇（標準，高精度和高速）。 產品型號：SPS系列 所在地：北京市 更新時間：2024-05-17 |
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LCS-4000系列MicroXact分析探針臺配有激光切割系統 簡單介紹：LCS-4000系列分析探針臺配有激光切割系統 帶有集成激光切割系統的LCS-4000探針臺為用戶提供了半導體診斷切割，失效分析，修整，標記和頂層去除的大靈活性。所有這些功能都可以在微觀層面上進行，所有這些都在這一系統上進行，這提供了非常易于使用的高水平性能。 產品型號：LCS-4000系列 所在地：北京市 更新時間：2024-05-16 |
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A4P系列A4P四點探針自動電阻率測繪系統 簡單介紹：A4P四點探針自動電阻率測繪系統 A4P系列晶圓電阻率映射器使用經過驗證的行業標準，可以快速，準確，可靠地測量樣品電阻率分布。MicroXact的四點探針通過使電流通過四點探頭的外部點并測量內部點的電壓來測量半導體晶圓層的平均電阻。然后可以通過將薄層電阻乘以薄膜的厚度來找到電阻率的值，即賦予其電阻的材料的性質。 產品型號：A4P系列 所在地：北京市 更新時間：2024-05-16 |
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Model 200-6JFP 引線鍵合機200 簡單介紹：JFP 引線鍵合機200-6適用于在6英寸晶圓上分割元件。功能強大的，無振動，操作簡單，無需過多培訓即可使用。包括數字十字準線的視頻集進行垂直定向； LCD屏幕可顯示參數，可通過編程輪進行選擇。 產品型號：Model 200-6 所在地：北京市 更新時間：2024-05-16 |
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S100JFP鍵合機100Model 簡單介紹：JFP鍵合機100Model適用于3英寸晶圓的劃片 劃片機 100是一款*的設備，設計用于劃分精密模具，例如GaAs和硅芯片。劃片機 100非常靈活，使用劃線和斷裂順序，使成品模具保持清潔，不受損壞。 在斷開模式期間，當線性刀升高以沿著芯線斷裂時，劃片機 100使用聚酯薄膜來保持模具。薄膜可防止模具受到污染或壓力。所有參數均由控制鍵盤設定，設備堅固耐用，無振動，操作簡單，無需過多培訓。 產品型號：S100 所在地：北京市 更新時間：2024-05-16 |
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MPS MiniMPS 環氧樹脂鍵合機 簡單介紹：MPS 環氧樹脂鍵合機 小芯片和SMD零件組裝 MPS 是實現準確揀選和放置的精密設備。 刀架設計，搖頭，為膠合提供了一個簡單的解決方案...... 視頻接口兼容Ultra-HD相機，可調節數字放大倍率，靈活性大，小尺寸和大尺寸芯片都適用。 真正的垂直運動實現了高精度放置和真正的垂直相機定位。 側面攝像頭，提供過程錄像;攝像頭可以任意角度傾斜; 高倍率變焦功能，適用于非常小的設備或關鍵過 產品型號：MPS Mini 所在地：北京市 更新時間：2024-05-16 |
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WB200JFP引線鍵合機 簡單介紹：WB-200系列JFP引線鍵合機作為多功能半自動焊線工具，用于研發，標準和小批量生產。 WB-200提供全手動Z向控制，用于標準設計或簡單維修，無需機械設置； 臺式，尺寸小巧； 所有配置：平面基板，堅固包裝； 強大的視頻/聚焦功能，兼容小鍵合圖案和多鍵高度應用； 軟件訪問不受限制； 這是新一代JFP焊線機，具有增強的功能，是堅固可靠的機械設備。 產品型號：WB200 所在地：北京市 更新時間：2024-05-16 |
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PL600NIL納米壓印機 簡單介紹：EZI UV NIL納米壓印機 EZI 紫外曝光納米壓印系統 EZ Imprinting推出了一款臺式獨立納米壓印系統：PL系列400/600. EZImprinting是一種超高產率（ 99％）納米壓印光刻系統，帶有低于10納米的分辨率和一步自動釋放功能。 產品型號：PL600 所在地：北京市 更新時間：2024-05-16 |
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SEMI-KLEENSEMI-KLEEN 等離子清洗儀 簡單介紹：遠程等離子清潔的原理 遠程等離子源需安裝在要被清潔的真空腔室上，控制器向遠程離子源提供射頻能量。射頻電磁場能激發等離子體，分解輸入氣體而產生氧或氫的活性基，活性基會擴散到下游的真空腔室，并與其中的污染物發生化學反應，反應產物能輕易地被抽走。遠程等離子清洗機可同時清潔真空系統和樣品。 產品型號：SEMI-KLEEN 所在地：北京市 更新時間：2024-05-16 |
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EM-KLEENEM遠程等離子清潔儀 簡單介紹：美國PIE出品的EM遠程等離子清潔儀，廣泛用于SEM掃描電鏡,FIB聚焦離子束雙束電鏡,TEM透射電鏡,XPS_X射線光電子能譜分析儀,ALD原子層沉積系統,CD-SEM, EBR, EBI, EUVL和其它高真空系統，可同時清潔真空腔室和樣品！ 產品型號：EM-KLEEN 所在地：北京市 更新時間：2024-05-16 |
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Tergeo-EMTergeo-EM樣品桿清潔等離子清洗機 簡單介紹：品牌：PIE 型號：Tergeo EM Tergeo EM型樣品桿清潔等離子清潔儀 *的雙清洗模式（immersion和downstream）能夠處理各種不同的樣品，從嚴重污染的電子光學孔徑光闌到各種脆弱易損樣品，如石墨烯、碳納米管、類金剛石碳膜以及多孔碳支持膜銅網上的TEM樣品。石英樣品托板上的孔洞可以安裝標準SEM樣品托。特別設計的適配器可以清潔不同廠家的TEM樣品桿。 產品型號：Tergeo-EM 所在地：北京市 更新時間：2024-05-16 |
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Tergeo-EMTEM透射電鏡等離子清洗機 簡單介紹：專為去除SEM & TEM樣品的碳氫污染而設計。*的雙清洗模式（immersion和downstream）能夠處理各種不同的樣品，從嚴重污染的電子光學孔徑光闌到各種脆弱 產品型號：Tergeo-EM 所在地：北京市 更新時間：2024-05-16 |
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