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熒光X-射線微小面積鍍層厚度測(cè)量儀的特征
◆可測(cè)量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度
◆可通過CCD攝像機(jī)來觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測(cè)量，避免直接接觸或破壞被測(cè)物。
◆薄膜FP法軟件是標(biāo)準(zhǔn)配置，可同時(shí)對(duì)多層鍍層及合金鍍層厚度和成分進(jìn)行測(cè)量。此外，也適用于無鉛焊錫的應(yīng)用。
◆備有250種以上的鍍層厚度測(cè)量和成分分析時(shí)所需的標(biāo)準(zhǔn)樣品。
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
儀器規(guī)格及參數(shù)
X射線管 | 油冷式超微細(xì)對(duì)焦點(diǎn)X射線管 靶材：鎢（W）、鋁（AL）、鉬（MO） 管電壓：0~50kv 管電流：0.1mA |
照射方式 | 由上往下垂直照射方式 |
檢測(cè)器 | 正比例計(jì)數(shù)管（PC） |
儀器校正 | 密度校正，標(biāo)準(zhǔn)樣品校正 |
檢測(cè)濾片 | Co片，Ni片可選 |
準(zhǔn)直器 | 固定型或自動(dòng)型 |
固定型：可選0.1，0.2，0.3，0.4，0.05x0.3mm | |
自動(dòng)型：0.1，0.2，0.3，0.4，0.05x0.3mm | |
輸入電壓 | AC220V |
溫度控制 | 前置放大及主機(jī)溫度控制 |
工作溫度 | 室溫（22~25℃） |
真空樣品室 排氣所需時(shí)間 | 沒有 |
可測(cè)量元素范圍 | 鈦（Ti）—鈾（U） |
可測(cè)量厚度范圍 | 原子序：22-25,0.1-0.8um 26-40,0.05-35um 43-52,0.05-100um 72-82,0.05-5um |
測(cè)量時(shí)間 | 10~30s |
操作接口 | Windows XP |