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X射線無損膜厚儀
閱讀：772 發布時間：2017-4-27
X射線無損膜厚儀Micro Pioneer XRF-2000系列熒光X射線金屬鍍層測厚儀可用于測量一般工件、PCB及五金、半導體等產品的各種金屬鍍層的厚度。只需要10-30秒即可獲得測量結果, zui小測量面積為直徑為0.1mm的圓面積; 測量范圍：0-35um;
X射線無損膜厚儀其特點為：激光自動對焦、全自動XYZ樣片臺、簡易自動對位、具溫度補償功能、十字線自動調整、可自行設計報告格式、多鍍層及電鍍液分析、具有競爭力的價格、五個可選準直器(0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05X0.3mm)。是非破壞性測厚儀器的機型。測量精度：誤差控制在±5%.
X射線無損膜厚儀標準規格
檢測系統 | |
檢測器 | 正比計數器 |
檢測濾片 | Co或Ni(選項) |
X-Y-Z三軸樣片臺 | |
操作模式 | 高速精密馬達，可控制加減速 |
位置控制 | 鼠標定位 |
樣品臺窗口控制 | |
防呆攝錄機監控 | |
2D、3D、隨機定位 | |
程控定位 | |
箱門開關感應Y軸傳輸 | |
攝像系統 | |
攝像器 | 彩色數字CCD攝像頭 |
顯示模式 | 顯示器覆蓋模式 |
刻度線 | 軟件產生 |
光束顯示 | 軟件顯示真實大小 |
照明燈 | 光暗控制 |
自動修正功能 | 光束及十字線自動修正 |
統計功能 | |
處理項目 | zui大/zui小值，位移，平均值，標準差， Bar圖表R圖表及方型圖等 |
報表 | 五種模式可選 |
處理能力 | zui多90項 |
標志功能 | 可插入公司標志 |
預覽 | 打印前預覽，可節省紙張 |
定性分析 | |
顯示模式 | 原素頻譜顯示 |
方法 | ROI距離定性分析 |
原素顯示 | 卷標圖案顯示 |
指針顯示 | 顯示原素及測量數值 |
ROI顯示 | 顯示ROI彩色圖 |
放大功能 | 局部放大 |
平均功能 | 柔和顯示頻譜 |
窗口大小 | 無級別式窗口大小 |