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二手測厚儀
閱讀：1114 發布時間：2017-4-17
Micro Pioneer XRF-2000系列熒光X射線金屬鍍層測厚儀可用于測量一般工件、PCB及五金、半導體等產品的各種金屬鍍層的厚度。只需要10-30秒即可獲得測量結果, zui小測量面積為直徑為0.1mm的圓面積; 測量范圍：0-35um;
其特點為：激光自動對焦、全自動XYZ樣片臺、簡易自動對位、具溫度補償功能、十字線自動調整、可自行設計報告格式、多鍍層及電鍍液分析、具有競爭力的價格、五個可選準直器(0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05X0.3mm)。是非破壞性測厚儀器的機型。測量精度：誤差控制在±5%.
范圍：
適用于本公司品質部物理實驗室X-ray測厚儀。
3.0 X-ray測厚儀操作要求及規范
3.1測試環境：溫度22±3℃，濕度60±15%。
3.2開機：打開測試主機、電腦、顯示器，打印機電源。
3.3進入Windows XP系統，雙擊Xray圖標，此時輸入設定的密碼。
3.4升壓：待機器完成初始化（既工作臺上下移動一周）后，待機30分鐘，可進行下一步操作。
波譜校準: 每日必做，作用在于讓儀器進行自我補償調整。首先點擊工具欄中系統調校圖標 ，然后將系統調校準的標準片放入儀器移至十字線中間，對焦，測量（按START鍵）。待儀器自動完成*步，第二步至zui后一步。此時對話框自動關閉，系統調校成功。若不成功，檢查是否做錯，重做一次也失敗的話請致電儀器服務商。