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X熒光鍍層測厚儀
閱讀：539 發布時間：2017-4-6
主機箱 | |
輸入電壓 | AC220±10% 50/60HZ |
溝通方法 | RS-232C |
溫度控制 | 前置放大及機箱溫度控制 |
對焦 | 激光自動對焦 |
樣品對位 | 激光對位 |
安全裝置 | 若測量中箱門打開，X射線會在0.5秒內關閉 |
表面泄漏 | 少于1 SV |
多通道分析 | |
通道數量 | 1024ch |
溫度控制 | 自動前置放大溫度控制 |
脈沖處理 | 微電腦高速處理器 |
X射線源 | |
X射線管 | 油冷，超微細對焦（選項） |
高壓 | 0 - 50KV（程控） |
管電流 | 0 - 1mA(程控) |
目標靶 | W靶（可選Mo或Be） |
準直器 | |
種類 | 固定型或自動型（選項） |
固定種類大小 | 可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.3mm 其他大小（選項） |
自動種類大小 | 0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.3mm |
計算機系統 | |
計算機 | IBM相容 |
顯示器 | 彩色顯示器 |
打印機 | 噴墨彩色打印機 |
校正 | |
應用 | 單鍍層，雙鍍層，合金鍍層，電鍍液 |
修正功能 | 密度修正，標準樣品再校正 |
2D、3D隨機位置測量 | |
2D | 均距表面測量 |
3D | 表面排列處理測量 |
隨機位置 | 任意設定測量點 |