“現(xiàn)代電子顯微鏡及電鏡在材料科學(xué)中的應(yīng)用研討會(huì)”暨第四屆郭可信電子顯微鏡和晶體學(xué)夏季培訓(xùn)會(huì)于7月11日至15日在沈陽(yáng)中科院金屬科學(xué)研究所舉辦，200多名從事電子顯微鏡研究及應(yīng)用的科研人員參加了本屆會(huì)議，40多名世界電鏡領(lǐng)域的學(xué)者做了大會(huì)報(bào)告。

西安交通大學(xué)單志偉老師在會(huì)上介紹Hysitron PI系列納米壓痕儀

      作為美國(guó)Hysitron納米壓痕儀在中國(guó)的*供應(yīng)商，德祥科技公司在此次會(huì)議上專門設(shè)立了一個(gè)場(chǎng)外展臺(tái)，展出了Hysitron的納米亞痕測(cè)試技術(shù)和產(chǎn)品，包括配合掃描電鏡使用PI85納米亞痕儀、配合透射電鏡使用的PI95納米壓痕儀、TI950納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)，Hysitron先進(jìn)的技術(shù)引起了許多參會(huì)者的興趣。

與會(huì)人員在參觀德祥公司制作的Hysitron納米壓痕儀Poster

     Hysitron納米壓痕儀采用的三板電容傳感器，大大降低儀器熱飄逸，檢測(cè)更準(zhǔn)確，PI系列可做納米線、納米顆粒、薄膜、微柱的力學(xué)性能分析，可做壓痕、壓縮、彎曲和拉伸試驗(yàn)，TI系列可做壓痕測(cè)試、劃痕測(cè)試、模量成像、動(dòng)態(tài)力學(xué)分析、聲發(fā)射檢測(cè)、接觸電阻測(cè)量等，是新一代微納米力學(xué)表征分析工具。

Hysitron PicoIndenter產(chǎn)品

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