12
當前位置：尤尼柯（上海）儀器有限公司>>技術文章>>光學薄膜測量儀的工作原理
光學薄膜測量儀的工作原理
光學薄膜由薄的分層介質構成的，通過界面?zhèn)鞑ス馐囊活惞鈱W介質材料。光學薄膜的應用始于20世紀30年代。現(xiàn)代，光學薄膜已廣泛用于光學和光電子技術領域，制造各種光學儀器。主要的光學薄膜器件包括反射膜、減反射膜、偏振膜、干涉濾光片和分光鏡等等。它們在國民經濟和國防建設中得到了廣泛的應用。
GL-SPM-D2T光學薄膜測量儀是?能快速準確地測量手機屏幕目的透光率以及各類平面光學元件的透射率，可用于實時在線檢測，實現(xiàn)產品全檢的儀器。
原理：
當觸針沿被測表面輕輕滑過時，由于表面有微小的峰谷使觸針在滑行的同時，還沿峰谷作上下運動。觸針的運動情況就反映了表面輪廓的情況。傳感器輸出的電信號經測量電橋后，輸出與觸針偏離平衡位置的位移成正比的調幅信號。經放大與相敏整流后，可將位移信號從調幅信號中解調出來，得到放大了的與觸針位移成正比的緩慢變化信號。再經噪音濾波器、波度濾波器進一步濾去調制頻率與外界干擾信號以及波度等因素對粗糙度測量的影響。