LET-2000D系列半導體動態參數測試系統

本公司7月15日9點34分報道：LET-2000D系列半導體動態參數測試系統#技術報道

產品描述

硬件優勢

→ 采用高分辨率的12 bit示波器：正確反映波形的細節，并準確計算出參數

→ 采用發布的光隔離、高CMRR探頭系統，解決SIC/GAN的 測試難點

→ 高帶寬的電壓和電流探測，彌補一般系統對SIC/GAN的測量要求

→ 可以滿足上/下管測試，避免頻繁連接探頭

→ 電壓覆蓋范圍寬、并可以再次擴展

→ 器件驅動設計支持SIC/GAN器件

→ 系統帶寬：>400MHz

→ 系統可以定制

軟件特點

→ 測量參數齊全：開關參數、短路參數、反向恢復參數

→ 支持器件類型多：單管/模塊、MOSFET、IGBT、FWD、GTR …

→ 測試方式：單脈沖、多脈沖

→ 離線數據分析：既可以在線測量，也可以記錄數據離線分析

→ 測試UI符合工程師的使用習慣

→ 測量項目及器件支持擴展

系統參數

→測量電壓：標配2000V覆蓋650V,1200V,1700V器件的測試。 可升 級到10000V。
→測量電流：標配200A，覆蓋單管、及部分模塊的測量，可升級到6000A。
→短路電流：2000A
→測量參數：Vce/Vds,Ic/Id,Vgs/Vge,toff, td(off), tf(Ic),Eoff, Ton, td(on), tr(Ic), Eon, dI/dt, dv/dt, Err, Qrr, trr, Irr等。
→測量項目：開關參數、短路參數、反向恢復參數、安全工作區等
→測量器件：單管/模塊，MOSFET、IGBT、FWD、GTR…
→系統帶寬：350MHz、500MHz、1GHz
→測量通道：4CH
→雙脈沖脈寬：最小20ns，高達150us。
→雙脈沖數：單脈沖、2-30脈沖
→測量依據標準：IEC60747-8 and IEC60747-9、JEDEC JEP173

LET-2000D的應用

→功率半導體的來料檢驗
→功率半導體的動態參數驗證
→實驗室的器件評估
→實驗室的驅動設計改善
→實驗室的PCB設計評估
→功率半導體的生產檢驗和篩選

測試項目

相關關鍵詞：示波器，力科示波器，泰克示波器，安捷倫示波器，是德示波器，數字示波器，示波器，網絡分析儀，信號分析儀，信號發生器，矢量網絡分析儀，頻譜分析儀，晶體管圖示儀，直流電源，可編程直流電源，半導體測試系統，協議分析儀，藍牙協議分析儀，以太網測試系統，邏輯分析儀，阻抗分析儀，電磁場強測試儀，電磁波場強分析儀，是德頻譜分析儀，安捷倫信號分析儀，函數發生器，任意波形發生器，矢量信號發生器，安捷倫網絡分析儀，半導體測試儀，半導體特性分析系統，功率器件分析儀，動態參數測試系統，星群模擬器系統，GNSS模擬器，無線通信測試儀，綜合測試儀，無線測試儀，網絡測試儀，USB協議分析儀，力科分析儀，SATA協議分析儀，以太網協議分析儀，精密阻抗分析儀，精密型LCR表，日置阻抗分析儀，穩科阻抗分析儀，程控直流電源，直流電源分析儀，雙通道直流電源，數字萬用表，力科邏輯分析儀，WIFI6測試系統，示波器探頭，電機驅動分析儀，串行數據分析儀，磁盤驅動分析儀，安規測試儀，耐壓測試儀，耐壓測試分析儀