產地類別 |
國產 |
價格區間 |
面議 |
應用領域 |
環保,能源,電子/電池,電氣,綜合 |
天瑞儀器 EDX-V 是一款 X 射線熒光鍍層測厚及成分分析儀,以下是其詳細介紹1:
采用多導毛細管 X 射線光學系統,利用 X 射線熒光原理,當 X 射線照射到樣品上時,樣品中的元素會被激發產生特征 X 射線熒光,通過檢測這些熒光的能量和強度來分析鍍層的成分和厚度。
近光路系統:結合鍍層行業微小樣品檢測需求,研發適用于鍍層檢測的超近光路系統,減少能量過程損耗。
聚焦技術:搭載先進的多導毛細管聚焦管,聚焦強度提升 1000 - 10000 倍,具有更高的檢測靈敏度、分析精度和高計數率,保證測試結果精確穩定。
相機設計:全景 + 微區雙相機設計,呈現全高清廣角視野,樣品觀察更全面,微米級別分辨率,滿足超微產品測試。
毛細管技術:先進的多導毛細管技術,信號強度比金屬準直系統高出幾個數量級,還有多規格可選的多導毛細管,滿足用戶不同測試需求。
移動平臺與定位系統:高精度 XYZ 軸移動測試平臺,結合雙激光點位定位系統,可實現在樣品測試過程中的全自動化,一鍵點擊,測試更省心。
測量超微小部件和結構:如印制線路板、連接器或引線框架等。
分析超薄鍍層:如厚度薄至 2nm 的 Au 鍍層和≤30nm 的 Pd 鍍層。
測量電子和半導體行業中的功能性鍍層。
分析復雜的多鍍層系統。
全自動測量:用于質量控制領域。
符合相關標準:符合 ENIG/ENEPIG 要求,以及 DIN ISO 3497、ASTM B568、IPC 4552 和 IPC 4556 標準。