TESCAN 高分辨率場發射掃描電鏡（SEM）

SEM

掃描電子顯微鏡是一種無損分析技術，它使用電子束分析樣品表面，分析尺度可至納米級。掃描電子顯微鏡可獲得高分辨的高倍圖像，廣泛應用于各個科學和工業領域。

TESCAN 提供場發射掃描電子顯微鏡 ( FE-SEM ) ，配備高亮度肖特基場發射燈絲，可以獲得高分辨率和低噪聲成像效果。其中，TESCAN MIRA 系列是高分辨率的場發射掃描電鏡。此外，TESCAN 新推出了 TESCAN CLARA 和 TESCAN MAGNA 系列產品。TESCAN CLARA 采用新型BrightBeam 電子鏡筒技術，實現了無磁場超高分辨成像，可以實現各種分析，包括磁性樣品的分析。TESCAN MAGNA 配置Triglav 型超高分辨率電子鏡筒，同時使用了全新的電子光學系統和探測器系統，能夠提供良好的表面靈敏度和襯度圖像，實現對電子束高敏材料或不導電材料納米特征的觀察。

產品型號介紹：

TESCAN MIRA

TESCAN CLARA

TESCAN MAGNA

適用領域

半導體和微電子：球柵陣列、硅通孔、引線焊接、微機電系統

材料科學：鋼鐵及合金、陶瓷及硬質涂層、玻璃、聚合物及復合材料、土木工程和建筑材料、木材，紡織品及紙張

生命科學：生物醫學工程、細胞&組織形態學、微生物學、制藥技術、植物和動物科學、亞細胞分析、環境和食品科學

地球科學：巖石學 & 礦物學、古生物學、礦物加工、廢物回收