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200KV透射電鏡Spectra 200 TEM

具體成交價以合同協議為準

公司名稱 賽默飛電子顯微鏡
品牌 FEI/賽默飛
型號
產地
廠商性質 生產廠家
更新時間 2025/6/27 15:40:38
訪問次數 1022

產品標簽

TEM 透射電鏡 Spectra 200 TEM 200KV

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原FEI公司，2016年被賽默飛世爾科技收購，成為賽默飛材料與結構分析（MSD) 電鏡事業部，是顯微鏡和微量分析解決方案的創新者和供應商。我們提供掃描電子顯微鏡SEM，透射電子顯微鏡TEM和雙束-掃描電子顯微鏡DualBeam FIB-SEM，結合先進的軟件套件，運用廣泛的樣本類型，通過將高分辨率成像與物理、元素、化學和電學分析相結合，使客戶的問題變成有效可用的數據。

展開

掃描電子顯微鏡，雙束電鏡，透射電子顯微鏡，冷凍電鏡，X射線光電子能譜儀，三維可視化軟件

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價格區間	面議	儀器種類	熱場發射
應用領域	環保,化工

200KV透射電鏡Spectra 200 TEM

200KV透射電鏡Spectra 200 TEM High throughput TEM and STEM microscope for all materials science applications

Key Features

High-resolution STEM imaging performance for all accelerating voltages

High-angle annular dark-field (HAADF) images of GaN and silicon.

Unprecedented sensitivity with the Panther STEM detection system

Advanced STEM imaging capabilities

Electron microscope pixel array detector (EMPAD) image of MoS2.

New possibilities in STEM analytics with Spectra 200 S/TEM

Specifications

Spectra 200 (S)TEM	Probe corrector: Energy spread: 0.4 eV Information limit: 110 pm STEM resolution: 60 pm (136 pm @ 30 kV) Uncorrected: Energy spread: 0.4 eV Information limit: 110 pm STEM resolution: 164 pm
Source	X-CFEG: Ultra-high-brightness cold field emission gun with energy resolution of <0.4 eV Flexible high-tension range from 30 – 200 kV
Analytics and detectors	Super-X/Dual-X EDS options, integrated software, and the Gatan Ultrafast EELS/DualEELS options together provide up to 1000 sp/s of simultaneous EDS and EELS data acquisition Analytics for live peak identification and background fitting during ultra-fast EDS acquisition Symmetric EDS detector design allows for combined tomographic EDS
Available detector options	HAADF detector On-axis solid state, 8 segmented BF and ADF detectors (16 segments in total) Thermo Scientific Ceta 16M Camera (optionally with speed enhancement) Gatan OneView/OneView IS cameras Gatan energy filter series Electron microscope pixel array detector (EMPAD)

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