相位噪聲分析儀  APPJ6040

通過提供內(nèi)部和外部參考選項，可以增加系統(tǒng)的靈活性和動態(tài)范圍。內(nèi)部基準可以提供快速的測量設(shè)置和快速的測量，而外部基準可以改善系統(tǒng)的本底噪聲性能。
可編程的低噪聲電源和偏置調(diào)諧電壓端口可用于為DUT供電，而無需使用外部電源。

相位噪聲分析儀  APPJ6040

• 非常易于使用，PC上的GUI軟件可直接通過LAN、USB或GPIB接口對設(shè)備進行操作

• 信號輸入范圍：1MHz至7GHz/26GHz/40GHz

• 極低的儀器本底噪聲（<-190dBc/Hz）

• 偏移范圍：0.01Hz至100MHz

• 標配互相關(guān)測試功能

• 極快的相位噪聲測量時間：10kHz至100MHz頻偏時每次互相關(guān)次數(shù)小于0.004秒

• 靈活的內(nèi)外部參考

• 3個獨立可調(diào)諧電壓源（-5~+22V）

• 內(nèi)置2個獨立直流電壓源（0~15V，每個600mA）

• 10MHz外參考輸入

• 外觸發(fā)輸入

• 緊湊、輕便、易攜帶：10kg

主要測量功能：

相位噪聲測量

• 絕對相位噪聲、剩余相位噪聲、附加相位噪聲

• 連續(xù)波、脈沖（低至50ns脈寬）、突發(fā)測試模式

  高漂移或慢速調(diào)制
  

  內(nèi)參考或外參考測試

  幅度噪聲測量
  

• 絕對

  連續(xù)波和脈沖測試模式
  

• 高漂移或慢速調(diào)制

瞬態(tài)測量

• 頻率對時間

• 相位對時間

• 幅度對時間

  短期和長期頻率穩(wěn)定度/艾倫方差測量
  

1s至10天

壓控振蕩器（VCO）特性測量

調(diào)諧、調(diào)諧靈敏度、推壓，功率，電流，諧波和相位噪聲