Aridus 3 膜去溶霧化系統：專門為ICP-MS進樣分析研發設計的進樣系統，其能夠最大增強10倍信號強度，同時能夠去除溶劑干擾，極大地降低信號基線，基本上消除氫氧化物干擾。

Aridus進樣系統是把微量霧化器和膜去溶技術相結合，具有如下特性：

   具有膜去溶的低流量（<100 µL/min）的微量霧化器

   減少了溶劑對ICP-MS的干擾

   家氮以增強ICP-MS的信號

   所有于樣品相關的部件均為惰性材料制成

   泵抽霧化室和溶劑蒸汽瓶的廢液

   可與所有ICP-MS 相聯

   可與ASX-100微量自動進樣器想配

Aridus進樣系統采用的低流量、氟材料的微量霧化器，而其性能優于高流量的常用的同心型霧化器。以大約60 µL/min常用樣品提升量，Aridus只需小于1mL的樣品就能分析所有的元素。同時Aridus全部采用惰性材料，可應用于含HF酸的樣品。采用泵抽出霧化室和溶劑蒸汽瓶的廢液進一步提高了穩定性。

        從霧化室出來的樣品氣溶膠進入加熱的氟材料隔膜，用一反向氬“穿透氣”帶走從膜滲透出來的溶劑蒸汽。

減小了ICP-MS的干擾

Aridus膜去溶能有效去除樣品溶劑蒸汽，顯著地減少諸如來自水中的氧化物、氫化物的干擾，下圖比較了標準氣動霧化器與Aridus系統的CeO/Ce 比率，該CeO/Ce比率從3% 減少為0.05%。

其他水基的干擾ArH ⁺（39）、CO₂⁺（44）、ArO⁺（56）有明顯的減少，從而使Li、Na、Mg、K、Ca、Fe的檢出限得到明顯改善。

配備Aridus的ICP-MS檢出限：（在普通環境、非冷焰的條件下，ELAN6000型ICP-MS）

增強ICP-MS的信號

在膜去溶后加如少量（5 到 20 mL/Min）的氮能提高分析信號。

的信號穩定性

Aridus的1小時信號穩定性：RSD<3%（用Mg²⁴、Co⁵⁹、Ce¹⁴⁰、Pb²⁰⁸ 4個通常調諧元素來測定）

Aridus的10小時信號穩定性：RSD<5%（用Mg²⁴、Co⁵⁹、Ce¹⁴⁰、Pb²⁰⁸ 4個通常調諧元素來測定）