高功率老化測試機 高功率老化測試機及老化測試板
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 成都鑫弋科技有限公司
- 品牌
- 型號 高功率老化測試機
- 產地 美國
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2017/8/31 9:52:40
- 訪問次數 605
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Micro Control 是世界范圍內老化測試的*。并提供基于獨立溫控的,對于高功率器件老化測試的解決方案。以及對于邏輯和存儲類等低壓器件的老化測試解決方案。跟機或單獨訂購的老化測試板,都可以適用于絕大多數種類的器件。
產品
HPB-5B | |
具備對于每顆芯片的獨立溫控功能,zui大支持單顆芯片功率為150w | |
每塊測試版可設定為獨立的測試區 | |
24個溫度控制通道 | |
每塊測試板支持128個數字式I/O接口 | |
測試芯片溫度zui大到150攝氏度 | |
程序zui高可設置溫度為150攝氏度 | |
每塊測試板中,擁有11組可編程電壓輸入 | |
每塊測試板,提供zui大800安培的功耗 | |
基于ASIC結構的獨立的引腳時序,測試以及數據模式 | |
8個運行時序設置 | |
系統zui大支持384個芯片同時測試 |
LC-2 | |
可對種類多樣的芯片進行老化測試,諸如ASICs, FPGAs,圖像處理芯片以及通信芯片 | |
具備對于每顆芯片的獨立溫控功能,zui大支持單顆芯片功率為20w | |
具備64個測試板的大容量系統 | |
每塊測試板支持128個數字式個I/O接口 | |
獨立的引腳時序,測試以及格式 | |
zui大測試板規格為12 1/2" × 24" | |
16個測試模式區域 | |
每塊測試版zui大支持250安培的程序電源設置 |
HPB-4 | |
具備對于每顆芯片的獨立溫控功能,zui大支持單顆芯片功率為600w | |
測試芯片溫度zui大到150攝氏度 | |
每塊測試板支持128個數字式I/O接口 | |
每塊測試板中,擁有6組可編程電壓輸入 | |
每塊測試板,提供zui大1600安培的功耗 | |
對測試芯片提供液冷的撒熱方式 | |
提供power clamp模式的電壓調節功能 | |
系統zui大支持112個芯片同時測試 |
LC-1 | |
可對種類多樣的芯片進行老化測試,諸如閃存芯片,DRAMS,SDRAMSY以及中等功耗的邏輯器件 | |
具備64個測試板的大容量系統 | |
每塊測試板支持128個數字式個I/O接口 | |
獨立的引腳時序,測試以及格式 | |
zui大測試板規格為12 1/2" × 24" | |
16個測試模式區域 | |
每塊測試版zui大支持60安培的可編程電源控制 | |
每塊測試版zui大支持120安培的可編程電源控制(可選功能) |
測試版模塊 | |
根據不同的老化測試需求,可提供包括溫度以及不間斷測試在內的測試板 | |
提供2層以及以上的厚度的測試板 | |
zui高支持200攝氏度 | |
鍍金的連接件 | |