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詳細(xì)摘要： 日立SU-8010 二手掃描電鏡通過(guò)對(duì)樣品二次電子、背散射電子的采集，可進(jìn)行物質(zhì)微觀形貌和生物組織觀察；并基于EDS附件得到部分元素定性和半定量分析，可以進(jìn)行微區(qū)的點(diǎn)、線、面掃描測(cè)試。 場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SU8010它繼承了上一代S-4800的優(yōu)點(diǎn)，性能有進(jìn)一步提高，1kv使用減速功能后，分辨率提升到1.3nm，相對(duì)于S-4800可以在更低的加速電壓下高分辨像，明顯提升了以往很難觀測(cè)的低原子序數(shù)樣品。

詳細(xì)摘要： 二手 日立 SU8020 高分辨冷場(chǎng)發(fā)射電鏡具有的功能，適用于各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、 背散射電子像觀察及圖像處理。低電壓下通過(guò)在納米尺度上觀察生物樣品如組織、 細(xì)胞、 微生物以及生物大分子等，獲得忠實(shí)原貌的立體感的樣品表面超微形貌結(jié)構(gòu)信息。 具有高性能X射線能譜儀，能同時(shí)進(jìn)行樣品表層的微區(qū)點(diǎn)線面元素的定性、 半定量分析，具有形貌、 化學(xué)組分綜合分析能力。

詳細(xì)摘要： SU-8010 日立二手冷場(chǎng)發(fā)射電鏡二次電子像、反射電子像進(jìn)行觀察及圖像處理?？蓪?duì)金屬、陶瓷、巖石礦物、生物等樣品及各種固體材料進(jìn)行觀察和分析研究。電鏡配有高性能X射線能量色散譜儀，簡(jiǎn)稱能譜儀（EDS），能在不損壞樣品的同時(shí)進(jìn)行樣品表層的微區(qū)點(diǎn)、線、面元素的定性、定量分析。具有形貌、化學(xué)組分綜合分析能力。

詳細(xì)摘要： 二手 日立S-4800冷場(chǎng)發(fā)射電鏡觀察和檢測(cè)體相及納米結(jié)構(gòu)的固態(tài)無(wú)機(jī)材料（非磁性）等表面形貌和組成

詳細(xì)摘要： 二手 日立 S-4700 冷場(chǎng)發(fā)射電鏡SEM+EDX可以觀察和檢測(cè)非均相有機(jī)、無(wú)機(jī)材料，及這些材料在納米、微米級(jí)樣品的表面特征。該儀器廣泛應(yīng)用于金屬材料、高分子材料、半導(dǎo)體材料、化工原料、地礦物品、寶石文物等微觀形貌的研究及公安刑偵的物證分析。能譜附件可對(duì)樣品進(jìn)行微區(qū)成分分析。

詳細(xì)摘要： 二手 日立 SU-8010 冷場(chǎng)發(fā)射電鏡真空系統(tǒng)采用分子泵和離子泵，抽真空速度快，設(shè)備的真空度高達(dá)10-8Torr。該設(shè)備在高倍模式下放大倍數(shù)100X～300,000 X，在低倍模式下放大倍數(shù)20X～2000；二次電子像的分辨率在加速電壓15KV時(shí)達(dá)到1.0nm，在加速電壓1KV時(shí)達(dá)到10 nm；最大的樣品尺寸是10mm。

詳細(xì)摘要： 二手 日本電子 場(chǎng)發(fā)射電鏡SEM+EDX:場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡，廣泛用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質(zhì)礦物、商品檢驗(yàn)、產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析?？梢杂^察和檢測(cè)非均相有機(jī)材料、無(wú)機(jī)材料及在上述微米、納米級(jí)樣品的表面特征.

詳細(xì)摘要： 二手 日本電子JSM IT-200掃描電子顯微鏡利用聚焦的很窄的高能電子束來(lái)掃描樣品, 通過(guò)光束與物質(zhì)間的相互作用, 來(lái)激發(fā)各種物理信息, 對(duì)這些信息收集、放大、再成像以達(dá)到對(duì)物質(zhì)微觀形貌表征的目的。

詳細(xì)摘要： 二手 日本電子 JSM-7610F plus場(chǎng)發(fā)射電鏡 ?是一種優(yōu)良的電子顯微鏡，其核心原理基于場(chǎng)發(fā)射電子源和電子光學(xué)系統(tǒng)。場(chǎng)發(fā)射電鏡利用強(qiáng)電場(chǎng)作用，使得電子通過(guò)量子隧道效應(yīng)逸出，形成高亮度、高相干性且能量分散小的電子束。這種電子源相比傳統(tǒng)的熱發(fā)射電子源，具有更高的亮度和更小的電子束直徑，從而實(shí)現(xiàn)更高的分辨率。

詳細(xì)摘要： 二手 日本電子 SEMIT100掃描電鏡主要特點(diǎn)為全數(shù)字化控制系統(tǒng)，高分辨率、高精度的變焦聚光鏡系統(tǒng)、全對(duì)中樣品臺(tái)及高靈敏度半導(dǎo)體背散射探頭；用于各種材料的形貌組織觀察、金屬材料斷口分析和失效分析。該型號(hào)在很多大學(xué)、研究院所及制造業(yè)被廣泛使用。

詳細(xì)摘要： 二手 日立 掃描電鏡SU-3500系列SEM+EDX具有實(shí)現(xiàn)了“3 kV加速電壓7 nm分辨率"的全新電子光學(xué)系統(tǒng), 可實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)立體成像的“實(shí)時(shí)立體觀察功能"＊1、以及更高檢測(cè)效率的 “UVD超高靈敏度可變壓力檢測(cè)器"＊1它為觀察和分析提出了嶄新的標(biāo)準(zhǔn)。

詳細(xì)摘要： 二手 FEI 掃描電鏡 QUANTA系列 250研究各種各樣的材料，并進(jìn)行結(jié)構(gòu)和成份表征，是目前對(duì)掃描電鏡 的主流應(yīng)用要求。FEI QuantaTM FEG系列靈活、通用，足以應(yīng)對(duì)當(dāng)今人 們廣博的研究方向這一挑戰(zhàn)?！胺治鋈魏螛悠?，得到所有數(shù)據(jù)"， 在Quanta FEG上可得到表面像和成份像，并可輔以多種附件來(lái)確定材 料的性質(zhì)和元素組成。

詳細(xì)摘要： 二手 蔡司 SEM SUPRA25 掃描電鏡廣泛地應(yīng)用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機(jī)械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、 織、水泥、玻璃纖維)等檢驗(yàn)和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實(shí)時(shí)微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析。

詳細(xì)摘要： 二手 日本電子 IT-300掃描電鏡經(jīng)過(guò)改進(jìn)照射系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和信號(hào)處理系統(tǒng)，不僅能觀察高質(zhì)量的圖像，還能利用觸控屏和快速樣品臺(tái)進(jìn)行高通量的直觀操作。JSM-IT300 提供高畫(huà)質(zhì)圖像，能滿足您對(duì)W-SEM機(jī)型的期待，新的鏡筒設(shè)計(jì)和掃描系統(tǒng)使得不導(dǎo)電樣品的圖像質(zhì)量有了顯著的提高。

詳細(xì)摘要： 二手FIB+雙束FIB+場(chǎng)發(fā)射電鏡在高科技領(lǐng)域，掃描電鏡（SEM）是揭示材料微觀世界的重要工具。美國(guó)FEI公司和賽默飛（Thermo Fisher Scientific）作為電鏡技術(shù)的企業(yè)，其產(chǎn)品在全球范圍內(nèi)被廣泛使用。淮安富匯電子有限公司，作為專業(yè)的第三方供應(yīng)商，現(xiàn)提供現(xiàn)貨供應(yīng)的美國(guó)FEI/賽默飛掃描電鏡。

詳細(xì)摘要： 二手SEM+EDX場(chǎng)發(fā)射電鏡:超高分辨率：場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡，最大可放大100萬(wàn)倍，提供超高清晰度的圖像。多功能探頭：配備SE（二次電子）、BSE（背散射）、EDS（能譜）和STEM（掃描透射）探頭，能夠?qū)崿F(xiàn)表面形貌觀察和成分分析。

詳細(xì)摘要： sigma500 二手蔡司場(chǎng)發(fā)射電鏡是蔡司公司推出的高性能設(shè)備，它采用成熟的GEMINI光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，分辨率超過(guò)0.8nm，能提供優(yōu)秀分辨率和分析性能的科研平臺(tái)。這款設(shè)備專注于EDS幾何學(xué)設(shè)計(jì)，可以獲取分析性能，而且有多種探測(cè)器選擇，可以精準(zhǔn)匹配您的應(yīng)用程序，獲取微小粒子、表面、納米結(jié)構(gòu)等多種圖像信息

詳細(xì)摘要： 二手日立SU-8010場(chǎng)發(fā)射電鏡包括SU-8010主機(jī)和E-1045噴鉑噴碳裝置，并配備有EDAX X射線能譜儀。加速電壓為15kV時(shí)，分辨率為1.0nm，加速電壓為1kV時(shí)，分辨率為1.3nm。

詳細(xì)摘要： 二手HITACHI-SU8010高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡可用于材料分析和研究，特別是材料斷口分析、微區(qū)成分分析、各種鍍膜表面形貌分析、層厚測(cè)量和顯微組織形貌及納米材料分析等。

詳細(xì)摘要： （2）手日本電子JSM-7610Fplus（SEM測(cè)試，日本電子JSM-7610FPlus）適用于多種樣品的觀察和分析。實(shí)現(xiàn)了分辨率15kV 0.8nm、1kV 1.0nm的進(jìn)一步提升，以嶄新的JSM-7610FPlus形象亮相。采用半浸沒(méi)式物鏡和High Power Optics照明系統(tǒng)，提供穩(wěn)定的高空間分辨率觀察和分析。此外還具備利用GENTLEBEAMTM模式進(jìn)行低加速電壓觀察。