菲希爾測厚儀XDL230

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230菲希爾X射線測厚儀作為一款高性能能量色散型 X 射線熒光設備，集鍍層測厚與材料分析功能于一體，廣泛應用于無損檢測領域。無論是鍍層厚度測量、材料成分剖析，還是溶液成分分析，或是大規模生產零部件及印刷線路板的鍍層檢測，它都能輕松勝任。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230菲希爾X射線測厚儀該測厚儀具備長期穩定性，大幅減少校準頻次，降低使用成本。其比例接收器可實現高計數率，確保測量結果精準可靠；FISCHER 基本參數法的應用，使儀器無需標準片，就能對鍍層系統、固體及液體樣品進行高效測量分析，特別適用于質量控制、進料檢驗和生產流程監控等場景。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230菲希爾X射線測厚儀在自動化檢測方面，配備可編程 XY 工作臺的版本，可實現系列測試自動化。儀器能便捷掃描樣品表面，精準檢測鍍層均勻性。測量門開啟時，XY 工作臺自動移至加載位，激光點同步指示測量點，便于快速定位樣品。針對大尺寸平整樣品（如線路板），側面開口的 C 形槽設計，極大提升裝載便利性。寬敞的測量室可容納高度達 140mm 的復雜形狀樣品；部分型號 Z 軸支持電動調節，測量距離可在 0-80mm 自由設定，配合 DCM 方法，能輕松完成腔體內部、表面不平整物體的測量任務。